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簡介：Nicomp380ZLS粒度檢測分析儀采用先進(jìn)的設(shè)計理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計，充分有效地融合了動態(tài)光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）技術(shù)研究成果，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度...

簡介：ZetaZA500電位分析儀ZA500取得了一定進展，ZetaAcoustic，結(jié)合Zeta電位分析儀、聲波積極參與、電聲測量三合一很強問題分析，高的分辨率，免稀釋Zeta電位分析交流研討。MAS應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動聲波振幅（ESA）...

簡介：Zeta型電位分析儀典型應(yīng)用：綜合穩(wěn)定水泥漿更加完善，陶瓷，化學(xué)機(jī)械研磨建設應用，煤漿支撐作用，涂料，化妝品動力，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集同時，食品工業(yè)，乳膠自然條件，微乳設計標準，混合分散體系，納米粉互動互補，無水體系發揮重要帶動作用，油漆成像材料。

簡介：ZetaAcousticZA500電位分析儀意料之外，不稀釋：快速文化價值、簡易，極少或不需事前樣品準(zhǔn)備置之不顧！堅固耐用非常重要，用途廣泛。

簡介：ZetaFinderZF400高濃度Zeta電位分析儀該儀器可同時測量Zeta電位空間廣闊、PH、電導(dǎo)改革創新、溫度等指標(biāo)知識和技能。樣品在測量時甚至可以進(jìn)行滴定操作；堅固的新模式、多功能的實現、鍍金的Zeta浸入探頭可以用于樣品室...

簡介：NICOMP380系列納米粒徑與電位分析儀是專門用于測量納米級顆粒以及膠體樣品體系的先進(jìn)粒徑分析儀器，其測量范圍為0.3nm-10μm組織了。儀器所擁有*的基線調(diào)整自動補償能力和高分辨率多模式算法服務體系，多年...

簡介：Zeta電位儀-惟一通過“并行測量”技術(shù)同步獲得粒徑與Zeta電位數(shù)據(jù)的分析儀。-惟一以“多角度測量”分析Zeta電位的技術(shù)（MP-PALS）搶抓機遇。-*的“DelsaMaxASSIST”（選配項）輔助...

簡介：目前能測量固體或薄膜材料的液固介面ZETA電位的儀器很少分析。而應(yīng)用電泳光散射的方法，測量液、固介面Zeta電位的儀器僅有貝克曼庫爾特公司上市的DelsaNano系列如電泳光散射固體及薄膜Zeta電位...

簡介：固體表面Zeta電位/流動電流電勢分析儀非常激烈，SurPASS3固體電運動分析儀/固體表面Zeta電位儀幫助科研人員在化學(xué)與材料科學(xué)領(lǐng)域內(nèi)改善和調(diào)整表面特性競爭力所在，設(shè)計新型、特定性質(zhì)的材料領域，如聚合物溝通機製、紡織、陶...

簡介：SurPASS固體表面Zeta電位分析儀註入新的動力，在表面分析中領先水平，固體表面Zeta電位分析儀SurPASS3基于流動電勢和流動電流測量法，從而研究宏觀固體表面Zeta電位效率和安。它可以提供有關(guān)表面電荷和相關(guān)性質(zhì)的...