Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀采用先進(jìn)的設(shè)計(jì)理念優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，充分有效地融合了動(dòng)態(tài)光散射（DLS）和電泳光散射（ELS）技術(shù)帶動擴大，即可以多角度（步長0.9°）檢測分析液態(tài)納米顆粒系的粒度及粒度分布核心技術體系，又可以小角度測量Zeta電位。

Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀

產(chǎn)品介紹：

Nicomp 380 ZLS 粒度檢測分析儀復(fù)合采用 Gaussian 單峰算法和擁有技術(shù)的 NiComp 無約束自由擬合多峰算法持續發展，對(duì)于多組分必然趨勢、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢(shì)，其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的擴大。

Nicomp 380 ZLS通過檢測分析膠體顆粒的電泳遷移率測量Zeta電位多樣性。Zeta電位是對(duì)顆粒之間相互排斥或吸引力的強(qiáng)度的度量，是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo)新格局，Zeta電位(正或負(fù))越高明顯，體系越穩(wěn)定。整機(jī)采用模塊化設(shè)計(jì)競爭力，功能擴(kuò)展靈活方便充分。*的樣品池設(shè)計(jì)使得進(jìn)樣方便快捷、用樣量少集聚，無須進(jìn)行繁瑣的樣品池校準(zhǔn)競爭力。

工作原理：

 動(dòng)態(tài)光散射法(DLS)：有時(shí)稱為準(zhǔn)彈性光散射法(QELS)，是一種成熟的非侵入技術(shù)狀況，可測量亞微細(xì)顆粒范圍內(nèi)的分子與顆粒的粒度及粒度分布機製性梗阻，使用技術(shù)，粒度可小于1nm全過程。 動(dòng)態(tài)光散射法的典型應(yīng)用包括已分散或溶于液體的顆粒集成應用、乳劑或分子表征。 懸浮在溶液中的顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)不負眾望，造成散射光光強(qiáng)的波動(dòng)使用。 分析光強(qiáng)的波動(dòng)得到顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)速度，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程得到顆粒的粒度密度增加。

儀器參數(shù)：