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F10-HC薄膜厚度測量儀

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具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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F10-HC薄膜厚度測量儀有價格優(yōu)勢的薄膜測量系統(tǒng)以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度等地,加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計最為顯著,能夠在厚膜中測量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。前所未見的簡易操作界面現(xiàn)在物聯與互聯,具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用穩定,這個功能允許用戶匯入樣品的影像(請參考下頁)改造層面,并直接在影像上定

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F10-HC薄膜厚度測量儀




有價格優(yōu)勢的薄膜測量系統(tǒng)

以F20平臺為基礎(chǔ)所發(fā)展的F10-HC薄膜測量系統(tǒng),能夠快速的分析薄膜 的反射光譜資料并提供測量厚度優勢與挑戰,加上F10-HC軟件的模擬演算法的設(shè)計經驗分享,能夠在厚膜中測量單層與多層(例如:底漆或硬涂層等)。


前所未見的簡易操作界面

現(xiàn)在趨勢,具有新樣板模式功能的F10-HC將更容易使用有力扭轉,這個功能允許用戶匯入樣品的影像(請參考下頁),并直接在影像上定義測量位置一站式服務。系統(tǒng)會自動通知使用者本次測量結(jié)果是否有效廣度和深度,并將測量的結(jié)果顯示在匯入的影像上讓用戶分析。



不需要手動基準(zhǔn)校正

F10-HC現(xiàn)在能夠執(zhí)行自動化基準(zhǔn)矯正以及設(shè)置自己的積分時間這個創(chuàng)新的方法不需要頻繁的執(zhí)行基準(zhǔn)矯正就可以讓使用者立即的執(zhí)行樣本的測量引領作用。


背面反射干擾

背面反射干擾對厚度測量而言是一個光學(xué)技術(shù)的挑戰(zhàn)加強宣傳,具有F10-HC系統(tǒng)的接觸式探頭能將背面反射干擾的影響最小化,使用者能以較高的精準(zhǔn)度來測量涂層厚度用的舒心。


選擇Filmetrics的優(yōu)勢

  •             桌面式薄膜厚度測量的

  •             24小時電話技術發展,和在線支持

  •             所有系統(tǒng)皆使用直觀的標(biāo)準(zhǔn)分析軟件

附加特性

  •           嵌入式在線診斷方式

  •           免費離線分析軟件

  •          精細(xì)的歷史數(shù)據(jù)功能,幫助用戶有效地存儲前來體驗,重現(xiàn)與繪制測試結(jié)果






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