Nicomp 380 在線粒徑檢測儀
Nicomp 380 在線粒徑檢測儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析顆粒的粒度分布大數據，主要用于檢測納米級別的膠體體系長效機製，其粒徑檢測范圍 0.3 nm- 10μm。Nicomp 380系列儀器復(fù)合采用了 Gaussian 單峰算法和的 Nicomp 多峰算法數字技術，對于多組分奮戰不懈、粒徑分布不均勻液態(tài)分散體系的分析以及膠體體系的穩(wěn)定性分析具有*優(yōu)勢，其優(yōu)異的解析度及重現(xiàn)性是其他同類產(chǎn)品*的範圍和領域。
基線調(diào)整自動補(bǔ)償功能和高分辨率多峰算法是Nicomp 380系列儀器所*的兩個主要特點(diǎn)有所增加，通過多年在不同領(lǐng)域的實(shí)踐證明，Nicomp380系列儀器可以有效區(qū)分開相鄰峰更高要求，也可以識別并剔除少數(shù)較大粒子造成的雜峰越來越重要的位置。
動態(tài)光散射&模塊化設(shè)計
標(biāo)準(zhǔn)配置的Nicomp 380 納米粒徑分析儀裝載了 15 mW的半導(dǎo)體激光光源，PMT探測器共同學習，以及固定90度檢測角順滑地配合。進(jìn)樣方式為嵌入式樣品池。
Nicomp 380納米粒徑分析儀是*在應(yīng)用動態(tài)光散射技術(shù)上的基礎(chǔ)上加入多模塊方法的先進(jìn)粒度儀。隨著模塊的升級和增加逐漸顯現，Nicomp 380的功能體系越來越強(qiáng)大全會精神，可以用于各種復(fù)雜體系的檢測分析。
自動稀釋模塊
帶有的自動稀釋模塊消除了人工稀釋高濃度樣品帶來的誤差拓展基地，且不需要人工不斷試錯來獲得合適的測試濃度集中展示，這大大縮短了測試者寶貴時間，且無需培訓(xùn)體系流動性，測試結(jié)果重現(xiàn)性好探索創新，誤差率<1%。
380/HPLD大功率激光器
美國PSS粒度儀公司在開發(fā)儀器的過程中實現了超越，考慮到在各種實(shí)驗測試條件中不同的需求新產品，對不用使用條件和環(huán)境配置了不同功率的激光發(fā)生器。大功率的激光器可以對極小的粒子也能搜集到足夠的散射信號橋梁作用，使得儀器能夠得到極小粒子的粒徑分布長遠所需。同樣，大功率激光器在測試大粒子的時候同樣也很有幫助讓人糾結，比如在檢測右旋糖酐大分子時規模，折射率的特性會引起光散射強(qiáng)度不足。
因為大功率激光器的特性管理，會彌補(bǔ)散射光強(qiáng)的不足和衰減優化上下，測試極其微小的微乳、表面活性劑膠束模樣、蛋白質(zhì)以及其他大分子不再是一個苛刻的難題生產體系。即使沒有色譜分離，Nicomp 380納米粒徑分析儀甚至也可以輕易估算出生物高分子的聚集程度很重要。
雪崩二極管 (APD) 探測器
Nicomp 380納米粒徑分析儀可以裝配各種大功率的激光發(fā)生器和雪崩二極管檢測器(相比較傳統(tǒng)的光電倍增管有7倍放大增益效果)能力和水平。
APD通常被用于散射發(fā)生不明顯的體系里來增加信噪比和敏感度，如蛋白質(zhì)異常狀況、不溶性膠束研究、濃度極低的體系以及大分子基團(tuán)，他們的顆粒的一般濃度為1mg/mL甚至更低應用創新，這些顆粒是由對光的散射不敏感的原子組成提高。APD外置了一個大功率激光發(fā)生器模塊，在非常短的時間內(nèi)就能檢測分析納米級顆粒的分布情況的特性。
380/MA多角度檢測器
粒徑大于100 nm的顆粒在激光的照射下不會朝著各個方向散射交流。多角度檢測角器通過調(diào)節(jié)檢測角度來增加粒子對光的敏感性來測試某些特殊級別粒子。Nicomp 380可以配備范圍在10°-175°信息化，步長0.9°的多角度測角器形勢，從而使得單一90°檢測角測試不了的樣品實踐者，通過調(diào)節(jié)角度進(jìn)行檢測，改善對大粒子多分散系粒徑分析的精確度約定管轄。
檢測范圍
0.3 nm -10 μm
無需校準(zhǔn)
應(yīng)用領(lǐng)域廣
檢測速度快
靈敏度高
對團(tuán)聚粒子靈敏度高(D6)
功能全面
使用簡捷
復(fù)合型算法
高斯(Gaussion)單峰算法與的Nicomp多峰算法結(jié)合
模塊化設(shè)計
可同機(jī)搭載ZETA電位檢測模塊數據，還可增加自動稀釋和自動滴定等輔助測試模塊
動態(tài)光散射原理
Nicomp 380納米粒徑分析儀采用動態(tài)光散射(Dynamic Light Scattering, DLS)原理來獲得范圍在0.3 nm到10 μm的膠體體系的粒度分布。DLS是通過一定波長的聚焦激光束照射在懸浮于樣品溶液的粒子上面發揮，從而產(chǎn)生很多的散射光波顯著。這些光波會互相干涉從而影響散射強(qiáng)度，散射強(qiáng)度隨時間不斷波動長足發展，二者之間形成一定的函數(shù)關(guān)系今年。粒子的擴(kuò)散現(xiàn)象(或布朗運(yùn)動)導(dǎo)致光強(qiáng)不斷波動。光強(qiáng)的變化可以通過探測器檢測得到結構不合理。使用自相關(guān)器分析隨時間而變的光強(qiáng)波動就可以得到粒度分布系數(shù)(Particle size distribution, PSD)。單一粒徑分布的自相關(guān)函數(shù)是一個指數(shù)衰減函數(shù)逐步改善，由此可以很容易通過衰減時間計算得到粒子擴(kuò)散率意見征詢。粒子的半徑可以很容易地通過斯托克斯(Stokes-Einstein)方程式計算得到。
大部分樣品一般都不均勻大大提高，往往會呈現(xiàn)多分散體系狀態(tài)的必然要求，即測出來的粒徑正態(tài)分布范圍會比較大，直觀的呈現(xiàn)是粒徑分布峰比較寬取得了一定進展。自相關(guān)函數(shù)是由多組指數(shù)衰減函數(shù)綜合組成完善好，每一個指數(shù)衰減函數(shù)都會因指數(shù)衰減時間不同而存在差異，此時計算自相關(guān)函數(shù)就變得不再簡單積極參與。
Nicomp 380納米粒徑分析儀巧妙運(yùn)用了去卷積算法來轉(zhuǎn)化原始數(shù)據(jù)問題分析，從而得出較接近真實(shí)值的粒度分布。Nicomp 尤其適合測試粒度分布復(fù)雜的樣品體系交流研討，利用一組*的去卷積算法將簡單的高斯正態(tài)分布模擬成高分辨率的多峰分布模式更加完善，這種去卷積分析方法，即得到PSS粒度儀公司*的粒徑分布表達(dá)方法—Nicomp分布(Nicomp Distribution)建設應用。
有些儀器的高斯分析模式可以使用基線調(diào)整參數(shù)的功能支撐作用，以此來補(bǔ)償測試環(huán)境太臟而超出儀器靈敏度的問題。高斯分析模式也可以允許使用者“固體重量模式”或者“囊泡重量模式”來分析帶有小囊泡的膠體體系動力，比如脂質(zhì)體綜合措施。
Nicomp分析方法是一種的高分辨率的去卷積算法，它*在1990年提出并應(yīng)用于分析和統(tǒng)計粒徑分布自然條件。在歷*已經(jīng)證明Nicomp分析方法能夠精確分析非常復(fù)雜的雙峰樣品分散體系(比如 2：1比例)設計標準，甚至是三峰樣品分散體系。在科學(xué)研究中將進一步，找到粒子聚集分布的雜峰是非常有用的充分發揮。
