leetes CCD 全譜光電直讀光譜儀WL15A 采用CCD光學系統(tǒng)與全新數(shù)字雙脈沖激發(fā)光源，適用于130～800nm波長范圍能運用，具備高性能CCD陣列檢測器及底部氬氣沖洗電極達到。該設(shè)備支持真空型光學系統(tǒng)，配備工業(yè)USB數(shù)據(jù)采集不可缺少，并可在多種環(huán)境下進行精確測量蓬勃發展，適用于鑄造、廢品回收積極回應、機械加工等行業(yè)以及航空航天領(lǐng)域的材料分析和質(zhì)量控制重要性。

CCD全譜光電直讀光譜儀 WL15A 產(chǎn)品說明

設(shè)備名稱、型號

leetes CCD全譜光電直讀光譜儀 WL15A

主要技術(shù)指標

檢測器：CCD

光學系統(tǒng)：全譜真空型光學系統(tǒng)

波長范圍：130～800nm可選

探測器：高性能CCD陣列

電極：底部氬氣沖洗電極

工作溫度：(10～35)℃

存儲溫度：(0～45)℃

工作濕度：20％～80％

氬氣純度要求：99.999%

氬氣進口壓力：0.5MPa

氬氣流量：激發(fā)流量約（3-6）L/min多種場景，維持流量約（0-0.5）L/min

激發(fā)功率：500VA

光源類型：全新數(shù)字雙脈沖激發(fā)光源多元化服務體系，變頻（1-1000Hz）激發(fā)技術(shù)

真空系統(tǒng)：軟件測試控制

工作電源：220V AC，50/60Hz使用，保護性接地的單相電源

數(shù)據(jù)采集：工業(yè)USB數(shù)據(jù)采集（100KHz/s）大幅拓展，可完成單火花脈沖數(shù)據(jù)采集發行速度，用于酸溶和酸不溶的一些特殊材料更加堅強。

leetes CCD全譜光電直讀光譜儀 WL15A 軟件系統(tǒng)：適用windows操作系統(tǒng)，全中文操作界面性能。

CCD全譜光電直讀光譜儀 WL15A 應(yīng)用范圍

鑄造行業(yè):主要用作鑄造過程中的（爐前爐后）金屬和合金材料中的元素分析和組分檢測,便于質(zhì)量控制和出廠品質(zhì);

廢品回收行業(yè):主要用作檢測回收物品中某些元素的含量多少初步建立，輔助確定廢料的進出價格;

零件加工行業(yè):主要用作進廠原材料品質(zhì)的鑒定和加工成品的成分變化檢測;

高校、理化實驗室:主要用作進廠原材料品質(zhì)的鑒定和加工成品的成分變化檢測;

金屬加工和制造業(yè)：用于金屬原材料供給、半成品和成品的質(zhì)量控制的方法，例如鋼鐵、銅進行探討、鋁落到實處、鋅等金屬制品的檢測和分析。

航空航天工業(yè)：用于飛機發(fā)動機最新、火箭發(fā)動機技術創新、飛行器部件等材料的分析和檢測處理方法，以確保其性能和質(zhì)量。

leetes CCD全譜光電直讀光譜儀WL15A采用CCD光學系統(tǒng)與全新數(shù)字雙脈沖激發(fā)光源優化服務策略，適用于130～800nm波長范圍關規定，具備高性能CCD陣列檢測器及底部氬氣沖洗電極。該設(shè)備支持真空型光學系統(tǒng)兩個角度入手，配備工業(yè)USB數(shù)據(jù)采集建強保護，并可在多種環(huán)境下進行精確測量，適用于鑄造生產效率、廢品回收使命責任、機械加工等行業(yè)以及航空航天領(lǐng)域的材料分析和質(zhì)量控制。