直讀光譜AES
全譜直讀光譜儀（AES）
高性能全譜型火花直讀光譜儀協調機製，基于十幾年的火花直讀光譜技術(shù)，全新推出的基于CMOS（互補(bǔ)金屬氧化物半導(dǎo)體）傳感器的光譜新產(chǎn)品形勢，專為金屬材料分析行業(yè)打造的火花直讀光譜儀實踐者。主要為滿足金屬冶煉、鑄造加工及金屬科學(xué)研究等過程中金屬材料化學(xué)成分的分析檢測約定管轄，實(shí)現(xiàn)精準(zhǔn)質(zhì)量控制數據。
性能優(yōu)勢
科研級CMOS檢測器，全元素分析發揮，開創(chuàng)PPM級元素分析新紀(jì)元
噪聲低 科研級感光元件噪聲小顯著，抗干擾強(qiáng)，具備防光暈技術(shù)
抗干擾 CMOS探測器集成度高開放以來，可避免外部電路引入噪聲
讀取速度快 采用OEO（Optimal Element-Oriented）技術(shù)占，像素信號單獨(dú)讀取，實(shí)現(xiàn)參數(shù)優(yōu)化設(shè)計(jì)
紫外響應(yīng)高 超高紫外響應(yīng)靈敏度提供了有力支撐，無需鍍膜激發創作，實(shí)現(xiàn)非金屬元素（N,C,S,P）分析，效果更優(yōu)
經(jīng)典雙光室設(shè)計(jì)，光譜范圍寬進行探討，元素分辨率有保證
獨(dú)立設(shè)計(jì)的紫外光學(xué)系統(tǒng)落到實處，激發(fā)臺(tái)直接采光，專為N再獲、C產品和服務、S、P等紫外元素測量設(shè)計(jì)體驗區，刻線數(shù)多增多，分辨率高，兼顧高分辨和譜線范圍優(yōu)勢有望，譜線范圍寬進一步推進，分析元素多，性能好
單獨(dú)設(shè)計(jì)的紫外光學(xué)系統(tǒng)方案，體積小應用的選擇，結(jié)構(gòu)簡單，左右，采用多孔吹掃技術(shù)背景下，可將空氣迅速吹掃干凈，確保元素分析效果
穩(wěn)定性升級可靠保障，重新定義光學(xué)產(chǎn)品穩(wěn)定性
壓鑄鋁合金整體光室自然條件，4級消除應(yīng)力處理
光室恒溫設(shè)計(jì)，保證光譜位置長期穩(wěn)定開展，不漂移
氣流路的精確設(shè)計(jì)互動互補，一切為了結(jié)果更穩(wěn)定
RTMC光譜優(yōu)化技術(shù)，帶來更穩(wěn)定的體驗(yàn)
全數(shù)字脈沖光源意向，自動(dòng)選擇能量保證分析的準(zhǔn)確性與重復(fù)性
易用性升級意料之外，給用戶更簡單、高效的使用體驗(yàn)
優(yōu)質(zhì)硬件與特定算法的結(jié)合形式，多重穩(wěn)定保障置之不顧，更好地監(jiān)控儀器運(yùn)行狀態(tài)，提升分析效果數字化，減少校準(zhǔn)頻率
支持全譜分析檢測空間廣闊，拓展性更高。增加分析基體和元素?zé)o需增加硬件改革創新，通過軟件即可擴(kuò)展分析范圍增強，使用更靈活
智能曲線功能可滿足對所有材料的分析需求，真正實(shí)現(xiàn)未知樣品分析交流等，無需糾結(jié)模型選擇更加廣闊，操作更加簡便
友好的人機(jī)交互設(shè)計(jì)規劃，軟件主界面簡潔清晰，圖形化顯示可以使用，短時(shí)間即可學(xué)會(huì)并熟練操作軟件
新增遠(yuǎn)程維護(hù)功能進入當下，可遠(yuǎn)程升級固件程序，遠(yuǎn)程檢查儀器狀態(tài)效高化，對儀器生命周期健康負(fù)責(zé)
應(yīng)用領(lǐng)域
應(yīng)用于冶金新體系、鑄造、機(jī)械加工創造、鑄造不難發現、金屬材料科研、航空航天設備製造、造船發展需要、汽車、海關(guān)檢驗(yàn)管理、第三方檢測等諸多領(lǐng)域顯示。
