當前位置:儀器網(wǎng) > 產品中心 > 電鍍鍍金厚度檢測儀器
返回產品中心>電鍍鍍金厚度檢測儀器
參考價 | ¥ 126909 |
訂貨量 | ≥1件 |
- 公司名稱 深圳市天創(chuàng)美科技有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地 深圳市
- 廠商性質 生產廠家
- 更新時間 2025/3/7 9:14:13
- 訪問次數(shù) 10
聯(lián)系方式:宋小姐 13534231905 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是儀器網(wǎng)上看到的信息銘記囑托,謝謝!
當前位置:儀器網(wǎng) > 產品中心 > 電鍍鍍金厚度檢測儀器
返回產品中心>參考價 | ¥ 126909 |
訂貨量 | ≥1件 |
聯(lián)系方式:宋小姐 13534231905 查看聯(lián)系方式
聯(lián)系我們時請說明是儀器網(wǎng)上看到的信息銘記囑托,謝謝!
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
電鍍鍍金厚度檢測儀器
單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內豐富內涵,
可最小測量達0.001um生產效率。
多層厚度范圍:
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析
我公司銷售產品包括X射線熒光光譜儀(含能量色散和波長色散型)(XRF)、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀(ICP)適應性、電感耦合等離子體質譜儀(ICP-MS) 節點、原子熒光光譜儀(AFS)交流等、原子吸收分光光度計(AAS)勇探新路、光電直讀光譜儀(OES)、氣相色譜儀(GC)提高、氣相質譜儀(GC-MS)有效保障、液相色譜儀(LC)大數據、液相質譜儀(LC-MS)、能譜儀(EDS)講實踐、高頻紅外碳硫分析儀(CS)數字技術、礦漿載流在線采樣儀(OSA)等。產品主要應用領域有電子電器市場開拓、五金塑膠措施、珠寶首飾(貴金屬及鍍層檢測等)、玩具安全(EN71-3等),F963中規(guī)定的有害物質:鉛Pb要落實好、砷As緊密相關、銻Sb、鋇Ba先進技術、鎘Cd培訓、鉻Cr、Hg深入、硒Se以及氯等鹵族元素效高、建材(水泥、玻璃基礎、陶瓷等)、合金(銅合金多種方式、鋁合金對外開放、鎂合金等)技術創新、冶金(鋼鐵、稀土資料、鉬精礦廣泛應用、其它黑色及有色金屬等)、地質采礦(各種礦石品位檢測設備)新產品、塑料(無鹵測試等)去完善、石油化工、高嶺土長遠所需、煤炭求索、食品、空氣規模、水質穩定發展、土壤、環(huán)境保護聯動、香精香料增持能力、紡織品、醫(yī)藥行業內卷、商品檢驗追求卓越、質量檢驗、人體微量元素和化合物檢驗等等參與能力。銷售的儀器設備應用于元素分析覆蓋,化合物測試,電鍍鍍層厚度檢測等研究。
電鍍鍍金厚度檢測儀器
鍍層檢測:
2.1高效、常見金屬鍍層有:
鍍層 基體 | Ni | Ni-P | Ti | Cu | Sn | Sn-Pb | Zn | Cr | Au | Zn-Ni | Ag | Pd | Rh |
Al | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
Cu | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Zn | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | |
Fe | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
SUS | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● | ● |
2.2、單層厚度范圍:
金鍍層0-8um,
鉻鍍層0-15um,
其余一般為0-30um以內提高,
可最小測量達0.001um機構。
2.3、多層厚度范圍
Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um Ni分析厚度:0-30um
Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um Ni分析厚度:0-30um
Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um Ni分析厚度:0-30um
2.4交流、鍍層層數(shù)為1-6層
2.5基礎、鍍層精度相對差值一般<5%。
2.6還不大、鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析高產;Zn-Ni合金成分分析。
單層分析精度發揮作用,以Ni舉例:(相對差值)
Ni層厚度(um) | 保證精度 |
<1.0um | <5% |
1.0-5.0um | <3% |
5.0-10um | <3% |
10-20um | <3% |
>20.0um | <3% |
產品優(yōu)勢及特征
(一)產品優(yōu)勢
鍍層檢測良好,檢測層數(shù)范圍1-5層;鍍層測量精度可達0.001μm。
全自動操作平臺引領,平臺尺寸80X2*75X2*90(X*Y*Z)快速增長;
激光定位和自動多點測量功能;
檢測的樣品可以為固體占、液體或粉末高質量;
運行及維護成本低、無易損易耗品激發創作,對使用環(huán)境相對要求低前景;
可進行未知標樣掃描、無標樣定性增幅最大、半定量分析共享應用;
操作簡單、精*無損研究成果、高品質取得了一定進展、高性能、高穩(wěn)定性大面積,快速檢測(5-40秒依配置而定)積極參與;
配置:SDD探測器、超長壽命X射線管培養、SPELLMAN高壓電源交流研討,儀器使用壽命長。
超高分辨率:125±5電子伏特(電子伏特越低分辨率越高形式,檢測越精*建設應用,這是能譜儀一個非常關鍵的技術指標);
可針對客戶個性化要求量身定做輔助分析配置硬件日漸深入;
軟件免費升級動力;
無損檢測,一次性購買標樣可使用互動式宣講;
使用安心無憂效高性,售后服務響應時間24H以內,提供保姆式服務自動化;
具有遠程服務功能提升,在客戶請求的情況下,可遠程進行儀器維護不折不扣;
(二)產品特征
高性能高精度X熒光光譜儀(XRF)
計算機 / MCA(多通道分析儀)
2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉換器)
Multi Ray. 運用基本參數(shù)法(FP)軟件支撐能力,對樣品進行精*的鍍層厚度分析,可對鍍液進行定量分析高效利用。
MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進行鍍層厚度及全元素分析
勵磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1
吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2
線性模式進行薄膜鍍層厚度測量
相對(比)模式 無焦點測量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497
多鍍層厚度同時測量
單鍍層應用 [如:Cu/ABS等]
雙鍍層應用 [如:Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]
三鍍層應用 [如:Au/Ni-P/Cu/Brass等]
四鍍層應用 [如:Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]
合金鍍層應 [如:Ni-Zn/Fe Sn-Ni/ABS Pd-Ni/Cu/ABS等]
Multi-Ray. 快速置之不顧、簡單的定性分析的軟件模塊。可同時分析20種元素空間廣闊。半定量分析頻譜比較營造一處、減法運算和配給改革創新。
Multi-Ray 金屬行業(yè)精*定量分析軟件知識和技能。可同時分析8種元素新模式。最小二乘法計算峰值反卷積實現。采用盧卡斯-圖思計算方法進行矩陣校正及內部元素作用分析。金屬分析精度可達±0.02%組織了,貴金屬(8-24 Karat) 分析精度可達±0.05kt
Multi-Ray. 對鍍液進行分析服務體系。采用不同的數(shù)學計算方法對鍍液中的金屬離子進行測定。含全元素搶抓機遇、內部元素分析、矩陣校正模塊。
Multi-Ray WINDOWS 7軟件操作系統(tǒng)
完整的統(tǒng)計函數(shù)均值全面闡釋、 標準差非常激烈、 低/高讀數(shù),趨勢線引人註目,Cp 和 Cpk 因素等
8. 自動移動平臺領域,用戶使用預先設定好的程序進行自動樣品測量,自動多點分析。每個階段的文件有達 25 個不同應用程序好宣講。特殊工具如"線掃描"和"格柵"註入新的動力。每個階段文件包含統(tǒng)計軟件包。包括自動對焦功能、方便加載函數(shù)雙重提升、瞄準樣品和拍攝、激光定位和自動多點測量功能事關全面。
硬件參數(shù):
X射線管:高穩(wěn)定性X射線管表現明顯更佳,使用壽命(工作時間>8,000小時)
微焦點x射線管
鈹窗口, 光斑尺寸75um規模,油絕緣穩定發展,氣冷式,輻射安全電子管屏蔽提供深度撮合服務。
50kV服務品質,1mA。高壓和管流設定為應用程序提供好性能組成部分。
探測器:SDD探測器
能量分辨率:125±5eV
濾光片/可選
初級濾光片:Al濾光片影響,自動切換
多準直器:0.2,0.3,0.5mm可選
測試點大小:準直器面積的1.5倍
平臺:軟件程序控制步進式電機驅動X-Y-Z軸移動大樣品平臺。
激光定位發展契機、簡易荷載最大負載量為5公斤
軟件控制程序進行持續(xù)性自動測量
樣品定位:顯示屏上顯示樣品鎖定廣泛關註、簡易荷載、激光定位及拍照功能
6. 分析譜線:
- 2048通道逐次近似計算法ADC(模擬數(shù)字轉換)
- 基點改正(基線本底校正)
- 密度校正
- Multi-Ray軟件包含元素ROI及測量讀數(shù)自動顯示
7.視頻系統(tǒng):高分辨率CCD攝像頭發力、彩色視頻系統(tǒng)
- 觀察范圍:3mm x 3mm
- 放大倍數(shù):40X
- 射線方向:上照式
- 軟件控制取得高真圖像
8. 檢測厚度(正常指標):
- 原子序數(shù) 22 - 24 : 6 ~ 1000 微英寸
- 原子序數(shù) 25 - 40 : 4 ~ 1200 微英寸
- 原子序數(shù) 41 - 51 : 6 ~ 3000 微英寸
- 原子序數(shù) 52 - 82 : 2 ~ 500 微英寸
9. 計算機優勢領先、打印機(贈送)
含計算機、顯示器共創美好、打印機推動並實現、鍵盤、鼠標
含Windows 7操作系統(tǒng)
Multi-Ray軟件
注:設備需要配備穩(wěn)壓電源覆蓋範圍,需另計優化程度。
2)、光譜儀軟件功能
軟件應用
- 單鍍層測量
- 線性層測量奮勇向前,如:薄膜測量
- 雙鍍層測量
- 針對合金可同時進行鍍層厚度和元素分析
- 三鍍層測量不斷豐富。
- 無電鍍鎳測量
- 電鍍溶液測量
- 吸收模式的應用 DIN50987.1/ ISO3497-A2
- 勵磁模式的應用DIN50987.1/ ISO3497-A1
- 基本參數(shù)法目前是鍍層領域好解決方案。
2) 軟件標定方法
- 自動標定曲線進行多層分析
- 使用無標樣基本參數(shù)計算方法
- 使用標樣進行多點重復標定
- 標定曲線顯示參數(shù)及自動調整功能
軟件校正功能:
- 基點校正(基線本底校正)
- 多材料基點校正組建,如:不銹鋼各有優勢,黃銅,青銅等
- 密度校正
軟件測量功能:
- 快速開始測量
- 快速測量過程
- 自動測量條件設定(光管電流顯著,濾光片快速增長,ROI)
5) 自動測量功能(軟件平臺)
- 同模式重復功能(可實現(xiàn)多點自動檢測)
- 確認測量位置 (具有圖形顯示功能)
- 測量開始點設定功能(每個文件中存儲原始數(shù)據(jù))
- 測量開始點存儲功能、打印數(shù)據(jù)
- 旋轉校正功能
- TSP應用
- 行掃描及格柵功能
6) 光譜測量功能
- 定性分析功能 (KLM 標記方法)
- 每個能量/通道元素ROI光標
- 光譜文件下載占、刪除高質量、保存、比較功能
- 光譜比較顯示功能:兩級顯示/疊加顯示/減法
- 標度擴充激發創作、縮小功能(強度前景、能量)
7) 數(shù)據(jù)處理功能
- 監(jiān)測統(tǒng)計值: 平均值、 標準偏差增幅最大、 最大值共享應用。
- 最小值、測量范圍最新,N 編號技術創新、 Cp、 Cpk重要作用,
- 獨立曲線顯示測量結果持續向好。
- 自動優(yōu)化曲線數(shù)值、數(shù)據(jù)控件
8)其他功能
- 系統(tǒng)自校正取決于儀器條件和操作環(huán)境
- 獨立操作控制平臺
- 視頻參數(shù)調整
- 儀器使用單根USB數(shù)據(jù)總線與外設連接
- Multi-Ray自動輸出檢測報告(HTML充足、Excel進展情況、PDF)
- 屏幕捕獲顯示監(jiān)視器的積極性、樣本圖片、曲線等.......
- 數(shù)據(jù)庫檢查程序
- 鍍層厚度測量程序保護至關重要。
儀器維修和調整功能
自動校準功能不久前;
優(yōu)化系統(tǒng)取決儀器條件和操作室環(huán)境;
自動校準過程中值增加提升行動、偏置量能力建設、強度、探測器分辨率自然條件,迭代法取決于峰位置設計標準、CPS開展、主X射線強度互動互補、輸入電壓、操作環(huán)境意向。
產品保修及售后服務
1. 協(xié)助做好安裝場地意料之外、環(huán)境的準備工作、指導并參與設備的安裝形式、測試置之不顧、診斷及各項工作。
2. 對客戶方操作人員進行培訓數字化。
3. 安裝方便、調試、驗收各領域、培訓及技術服務均為免費應用領域,在用戶方現(xiàn)場對操作人員進行培訓。
4. 整機保修一年進行培訓,終身維修,保修期從我司驗收合格后并正式投入使 用之日起計算發展機遇。
5. 免費提供軟件升級
測量原理:能量色散X射線分析
u X射線光管:50KV,1mA
u 檢測系統(tǒng):Si-PIN探測器
u 檢測元素范圍:Al (13) ~ U(92)
u 應用程序語言:中/英/韓
u 平臺尺寸:80X2*75X2*90
u 樣品類型:液體/固體/粉末
u 濾光片:多重濾光片自動轉換
u 能量分辨率:149±5eV
u 準直器:0.2,0.3,0.5mm可選
u 分析方法:FP/校準曲線
u 儀器尺寸:618*525*490(X*Y*Z)
● 工作溫度:15-30℃ ● 電 源:220VAC 60Hz
● 相對濕度:≤80% ● 功 率:150W
儀器主要組件
組件 | 描述 | 參數(shù) | 備注 |
直流電源 | 電壓 | 220V 50/60Hz | 中國臺灣產 |
功率 | 550W | ||
X高壓電源 | 輸入電壓 | 24V | 美國產 |
總功率 | 50W | ||
輸出電壓 | 0-50KV | ||
輸出電流 | 0-2mA | ||
X光管 | 管電壓 | 4-50KV | 美國產 |
管電流 | 0-1mA | ||
功率 | 50W | ||
靶材 | Mo(鉬)物聯與互聯、Rh(銠)(高配微焦鉬靶) | ||
探測器 | 類型 | 硅漂移SDD | 美國產 |
冷卻方式 | 電子制冷 | ||
分辨率 | 125±5eV | ||
檢測面積 | 25mm2 | ||
Be窗 | 0.5mil(12.7um) | ||
準直器 | 直徑(mm) | 0.2,0.3,0.5,1,4,4mm | 自動切換 |
濾片 | 材料 | Ti,Al, Ni, Mo | |
攝像頭 | 分辨率 | 200萬像素 | |
控制系統(tǒng) | 計算機 | 具有USB接口的PC機 | 聯(lián)想商務機 |
CPU | 雙核2.8G | ||
內存\硬盤 | 2G\500G | ||
控制板 | X光控制穩定,機械動作控制 | 韓國產 | |
外形尺寸 | 尺寸 | 618*525*490 | WxDxH |
重量 | 75Kg | ||
測試艙 | 平臺可移動范圍尺寸 | 160 *160* 100mm | |
樣品臺尺寸 | 250*225mm | ||
平臺最大負荷 | 5Kg | ||
工作距離 | 工作間隙 | 5mm | |
軟件 | 操作系統(tǒng) | windowXP,win7 | |
分析軟件 | MultiRay,F(xiàn)P算法 | 韓國/sense |
電鍍鍍金厚度檢測儀器
*您想獲取產品的資料:
個人信息: