X射線(xiàn)熒光光譜鍍層厚度分析儀
工作環(huán)境要求：
2.1 環(huán)境溫度要求：15℃-30℃
2.2 環(huán)境相對(duì)濕度：<70%
2.3 工作電源：交流220±5V
2.4 周?chē)荒苡袕?qiáng)電磁干擾發行速度。

X射線(xiàn)熒光光譜鍍層厚度分析儀

我公司銷(xiāo)售產(chǎn)品包括X射線(xiàn)熒光光譜儀（含能量色散和波長(zhǎng)色散型）（XRF）優化程度、電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP）、電感耦合等離子體質(zhì)譜儀(ICP-MS) 奮勇向前、原子熒光光譜儀（AFS）、原子吸收分光光度計(jì)（AAS）多元化服務體系、光電直讀光譜儀（OES）規劃、氣相色譜儀（GC）、氣相質(zhì)譜儀（GC-MS）深度、液相色譜儀（LC）帶動擴大、液相質(zhì)譜儀（LC-MS）、能譜儀（EDS）開拓創新、高頻紅外碳硫分析儀（CS）等持續發展。產(chǎn)品主要應(yīng)用領(lǐng)域有電子電器、五金塑膠促進善治、珠寶首飾（貴金屬及鍍層檢測(cè)等）擴大、玩具安全（EN71-3等）,F963中規(guī)定的有害物質(zhì)：鉛Pb、砷Ａs發揮效力、銻Sb新格局、鋇Ｂa、鎘Cd安全鏈、鉻Cr顯示、Ｈg、硒Se以及氯等鹵族元素真正做到、建材（水泥科普活動、玻璃創新延展、陶瓷、耐火材料等）長期間、合金（銅合金基本情況、鋁合金、鎂合金等）綠色化發展、冶金（鋼鐵至關重要、稀土、鉬精礦用上了、其它黑色及有色金屬等）提升行動、地質(zhì)采礦（各種礦石品位檢測(cè)設(shè)備）、塑料（無(wú)鹵測(cè)試等）關註、石油化工研究進展、高嶺土、煤炭連日來、食品廣泛關註、空氣、水質(zhì)集成技術、土壤就能壓製、環(huán)境保護(hù)、香精香料適應能力、紡織品更優美、醫(yī)藥、商品檢驗(yàn)防控、質(zhì)量檢驗(yàn)成效與經驗、醫(yī)療器械重金屬含量測(cè)試、人體微量元素和化合物檢驗(yàn)等等堅實基礎。銷(xiāo)售的儀器設(shè)備應(yīng)用于元素分析稍有不慎，化合物測(cè)試，電鍍鍍層厚度檢測(cè)等等地。下面介紹電鍍膜厚檢測(cè)儀器：

鍍層檢測(cè)：

2.1最為顯著、常見(jiàn)金屬鍍層有：

2.2、單層厚度范圍：

金鍍層0－8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以?xún)?nèi)規定，

可最小測(cè)量達(dá)0.001um穩定。

2.3、多層厚度范圍

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

2.4供給、鍍層層數(shù)為1-6層

X射線(xiàn)膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

1. 鍍層檢測(cè)優勢與挑戰，多鍍層檢測(cè)可達(dá)5層，精度及穩(wěn)定性可控制在+/-5%內(nèi)。

2. 激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能趨勢。

可檢測(cè)固體有力扭轉、粉末狀態(tài)材料。

運(yùn)行及維護(hù)成本低一站式服務、無(wú)易損易耗品廣度和深度，對(duì)使用環(huán)境相對(duì)要求低。

可進(jìn)行未知標(biāo)樣掃描引領作用、無(wú)標(biāo)樣定性加強宣傳，半定量分析。

操作簡(jiǎn)單用的舒心、易學(xué)易懂技術發展、精準(zhǔn)無(wú)損、高品質(zhì)前來體驗、高性能自主研發、高穩(wěn)定性，快速出檢測(cè)結(jié)果更加廣闊。

可針對(duì)客戶(hù)個(gè)性化要求量身定做輔助分析配置硬件損耗。

軟件*升級(jí)。

無(wú)損檢測(cè)非常完善，一次性購(gòu)買(mǎi)標(biāo)樣可長(zhǎng)期使用性能穩定。

使用安心無(wú)憂(yōu)，售后服務(wù)響應(yīng)時(shí)間24H以?xún)?nèi)作用，提供*保姆式服務(wù)越來越重要。

可以遠(yuǎn)程操作，解決客戶(hù)使用中的后顧之憂(yōu)發揮重要作用。

可進(jìn)行RoHS檢測(cè)（選配功能），應(yīng)對(duì)新版中華人民共和國(guó)RoHS檢測(cè)要求數據顯示，歐盟及北美RoHS檢測(cè)等要求標(biāo)準(zhǔn)高質量，精確的測(cè)試RoHS指令中的鉛、汞記得牢、鎘註入了新的力量、鉻、鋇更多可能性、銻去創新、硒、砷等重金屬緊迫性，測(cè)試無(wú)鹵素指令中的溴結構、氯等有害元素。亦可對(duì)成分進(jìn)行分析。

（二）X射線(xiàn)膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品特征

高性能高精度X熒光光譜儀（XRF）

計(jì)算機(jī) / MCA(多通道分析儀)

2048通道逐次近似計(jì)算法ADC（模擬數(shù)字轉(zhuǎn)換器）

Multi Ray. 運(yùn)用基本參數(shù)（FP）軟件溝通協調，通過(guò)簡(jiǎn)單的三步進(jìn)行無(wú)標(biāo)樣標(biāo)定要素配置改革，使用基礎(chǔ)參數(shù)計(jì)算方法，對(duì)樣品進(jìn)行精確的鍍層厚度分析保障性，可以增加RoHS檢測(cè)功能帶動產業發展。

MTFFP (多層薄膜基本參數(shù)法) 模塊進(jìn)行鍍層厚度及全元素分析

勵(lì)磁模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A1

吸收模式 50987.1 DIN / ISO 3497-A2

線(xiàn)性模式進(jìn)行薄鍍層厚度測(cè)量

相對(duì)（比）模式 無(wú)焦點(diǎn)測(cè)量 DIN 50987.3.3/ ISO 3497

多鍍層厚度同時(shí)測(cè)量

單鍍層應(yīng)用 [如：Cu/ABS等]

雙鍍層應(yīng)用 [如：Ag/Pd/Zn, Au/Ni/Cu等]

三鍍層應(yīng)用 [如：Au/Ni-P/Cu/Brass等]

四鍍層應(yīng)用 [如：Cr/Ni/Cu/Zn/SnPb等]

合金鍍層應(yīng) [如：Sn-Ni/ABS  Pd-Ni/Cu/ABS等]

5. Smart-Ray. 快速、簡(jiǎn)單的定性分析的軟件模塊十分落實”对鲂?？赏瑫r(shí)分析20種元素。半定量分析頻譜比較設施、減法運(yùn)算和配給需求。

Smart-Ray. 金屬行業(yè)精確定量分析軟件∫幠ＴO備？梢淮涡苑治?5種元素真諦所在。小二乘法計(jì)算峰值反卷積。采用盧卡斯-圖思計(jì)算方法進(jìn)行矩陣校正及內(nèi)部元素作用分析競爭力。金屬分析精度可達(dá)+ /-0.02%充分，貴金屬（8-24 Karat) 分析精度可達(dá)+ /-0.05kt

Smart-Ray。含全元素集聚、內(nèi)部元素競爭力、矩陣校正模塊

Multi-Ray, Smart-Ray. WINDOWS7軟件操作系統(tǒng)

完整的統(tǒng)計(jì)函數(shù)均值、 標(biāo)準(zhǔn)差狀況、 低/高讀數(shù)機製性梗阻，趨勢(shì)線(xiàn)，Cp 和 Cpk 因素等

自動(dòng)移動(dòng)平臺(tái)全過程，用戶(hù)使用預(yù)先設(shè)定好的程序進(jìn)行自動(dòng)樣品測(cè)量集成應用。大測(cè)量點(diǎn)數(shù)量 = 每9999 每個(gè)階段文件。每個(gè)階段的文件有多 25 個(gè)不同應(yīng)用程序不負眾望。特殊工具如"線(xiàn)掃描"和"格柵"高效流通。每個(gè)階段文件包含*統(tǒng)計(jì)軟件包。包括自動(dòng)對(duì)焦功能精準調控、方便加載函數(shù)功能、瞄準(zhǔn)樣品和拍攝、激光定位和自動(dòng)多點(diǎn)測(cè)量功能解決。

（三）X射線(xiàn)膜厚測(cè)試儀產(chǎn)品配置及技術(shù)指標(biāo)說(shuō)明

X射線(xiàn)管：高穩(wěn)定性X光光管

微焦點(diǎn)X射線(xiàn)管結構、Mo (鉬) 靶

鈹窗口， 陽(yáng)極焦斑尺寸75um，油絕緣更優美，氣冷式各方面，輻射安全電子管屏蔽。

50kV成效與經驗，1mA善謀新篇。高壓和電流設(shè)定為應(yīng)用程序提供優(yōu)異性能。

探測(cè)器：SDD 探測(cè)器（可選Si-Pin）

能量分辨率：125±5eV（Si-Pin:159±5eV）

X射線(xiàn)熒光光譜鍍層厚度分析儀