SPECTROLAB S 直讀光譜儀
— 金屬分析真正意義上的革命
40多年來，SPECTRO全心投入開發(fā)出的發(fā)射光譜儀製高點項目。今天為產業發展，斯派克公司引入CMOS探測器技術(shù)，改變了電弧/火花分析技術(shù)的走向及未來有所增加。在所有同類分析儀中各項要求，SPECTROLAB S所提供分析速度超出想象，低元素檢測限越來越重要的位置，同時也可以提供超長的正常運行時間和非常具有前瞻性的靈活性新技術。
SPECTROLAB S 擁有一個基于CMOS的探測器的記錄系統(tǒng)，該系統(tǒng)非常適合于金屬分析順滑地配合。從微量元素到多基體應(yīng)用深入，它提供了快速、高度準(zhǔn)確高質量發展、異常靈活的技術(shù)選擇全方位。
樣品的分析速度是儀器性的重要標(biāo)志，SPECTROLAB S的推出滿足了金屬分析市場對速度的需求影響力範圍。例如：當(dāng)檢測低合金鋼時大局，它可以在20秒或更短的時間內(nèi)提供高準(zhǔn)確度的測量值！
從技術(shù)指標(biāo)和實際使用效果看不合理波動，SPECTROLAB S均是適合金屬冶煉廠的測試需求宣講手段。對于金屬再加工生產(chǎn)商、汽車和航空航天制造商積極拓展新的領域、以及成品和半成品配套設備、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體等制造商來說相對開放，可以給出的解決方案同樣出色推進高水平。
創(chuàng)新點
1、獨立雙光室拓展應用，確保所有分析譜線都獲得很高分辨率生產創效。 SPECTROLAB S 配備兩套完整的專用光學(xué)系統(tǒng)。一個光室精確測量波長從120到240納米（nm）;另一個光室管理，波長范圍從210到800納米（nm）優化上下。 兩個光室都采用的CMOS檢測器能力建設，具備恒溫裝置和壓力補(bǔ)償功能
2、等離子發(fā)生器數(shù)字光源和點火板可靠的新型高能LDMOS等離子發(fā)生器光源生產體系，為SPECTROLAB S 輸出高穩(wěn)定的火花放電服務，頻率高達(dá)1000 Hz，只需要很短的時間即可完成測試能力和水平，例如分析低合金鋼小于 20 秒覆蓋。該系統(tǒng)還允許特定應(yīng)用的火花參數(shù)設(shè)置，以優(yōu)化分析性能明確相關要求。
3重要意義、精密氬氣控制系統(tǒng) SPECTROLAB S 采用全新程控流量。軟件根據(jù)分析程序精密設(shè)置氬氣流量深化涉外。節(jié)約了氬氣消耗體系。氬氣閥體直接耦合到火花臺，無需管道連接開展試點，避免漏氣攜手共進。
4、火花臺清理間隔大大延長 堅固的陶瓷內(nèi)芯避免積塵粘附推進一步。流暢的氣路設(shè)計確保了很少的粉塵殘留（使得清理間隔時間延長了8倍）經過；對于大樣品量輸出的全自動光譜儀系統(tǒng)尤為重要。
5力度、快速讀出系統(tǒng) 斯派克的GigE創(chuàng)新讀出系統(tǒng)確保海量數(shù)據(jù)的極速處理管理，從而支持的儀器性能表現(xiàn)。實現(xiàn)了的全光譜范圍譜圖記錄業務指導。
6改進措施、低檢出限。SPECTROLAB S 采用的 CMOS+T技術(shù)長足發展，在關(guān)鍵元素的檢測限方面今年，超越光電倍增管技術(shù)的性能。通過配置參比通道結構不合理，工作曲線可以獲得很好優(yōu)化動手能力，可以快速定量分析ppm量級的高純金屬或合金中的痕量元素。
7意見征詢、元素在低合金鋼中平均檢測限改善2倍提升，元素在純鋁中的平均檢測限改善5倍。
8的必然要求、單一標(biāo)樣實現(xiàn)整個系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)化, 此項每天可節(jié)省30分鐘工作時間研究成果。
