XAU-4CS光譜分析儀性能優(yōu)勢：1.微小樣品檢測：最小測量面積0.03mm（加長測量時間可小至0.01mm）2.變焦裝置算法：可改變測量距離測量凹凸異形樣品穩步前行，變焦距離可達0-30mm3.的EFP算法：Li(3)-U(92)元素的涂鍍層結構不合理，多層多元素，甚至有同種元素在不同層也可精準測量

儀器簡介：

XAU-4CS是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度的光譜分析儀積極參與，采用了下照式C型腔體設計問題分析，是一款一機多用型光譜儀。

應用核心EFP算法和微光聚集技術交流研討，既保留了專用測厚儀檢測微小樣品和凹槽的性能更加完善，又可滿足微區(qū)RoHS檢測及成分分析。

被廣泛用于各類產(chǎn)品的質量管控應用的選擇、來料檢驗和對生產(chǎn)工藝控制的測量使用堅持好。

產(chǎn)品優(yōu)勢：

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技術參數(shù)：

1. 成分分析范圍：鋁（Al）- 鈾（U）

2. 成分檢出限：1ppm

3. 涂鍍層分析范圍：鋰（Li）- 鈾（U）

4. 涂鍍層檢出限：0.005μm

5. 最小測量直徑□0.1*0.3mm（最小測量面積0.03mm²）

    標配：最小測量直徑0.3mm（最小測量面積0.07mm²）

6. 對焦距離：0-30mm

7. 樣品腔尺寸：500mm*360mm*215mm

8. 儀器尺寸：550mm*480mm*470mm

9. 儀器重量：45KG

10. XY軸工作臺移動范圍：50mm*50mm

11. XY軸工作臺承重：5KG

應用領域：

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多元迭代EFP核心算法（號：2017SR567637）

專業(yè)的研發(fā)團隊在Alpha和Fp法的基礎上即將展開，計算樣品中每個元素的一次熒光、二次熒光特性、靶材熒光傳承、吸收增強效應、散射背景等多元優(yōu)化迭代開發(fā)出EFP核心算法建言直達，結合的光路轉換技術多種、變焦結構設計及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標樣來校正儀器因子充分發揮，可測試重復鍍層發展成就、非金屬、輕金屬重要方式、多層多元素以及有機物層的厚度及成分含量開展面對面。

單涂鍍層應用：如Ni/Fe、Ag/Cu等

多涂鍍層應用：如Au/Ni/Fe非常重要、Ag/Pb/Zn等

合金鍍層應用：如ZnNi/Fe進一步提升、ZnAl/Ni/Cu等

合金成分應用：如NiP/Fe，通過EFP算法營造一處，在計算鎳磷鍍層厚度的同時改革創新，還可精準分析出鎳磷含量比例。

重復鍍層應用：不同層有相同元素取得顯著成效，也可精準測量和分析新模式。

如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，層Ni和第三層Ni的厚度均可測量不容忽視。

有害元素檢測：RoHS檢測組織了，可滿足鉛（Pb）、汞（Hg）說服力、鎘（Cd）服務為一體、六價鉻（Cr VI）等有害元素的成分檢測及含量分析

選擇一六儀器的四大理由：

1.一機多用，無損檢測（涂鍍層檢測-環(huán)保RoHS-成分分析）

2.最小測量面積0.002mm²

3.可檢測凹槽0-30mm的異形件

4.輕元素逐漸顯現，重復鍍層全會精神，同種元素不同層亦可檢測

配置清單：

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