尼克斯膜厚儀QNIX4200

簡介

尼克斯膜厚儀QNIX4200是探頭與主機一體化式金屬涂層測厚儀特性。用于測量非磁性基體（如銅傳承，鋁，不銹鋼）上的涂層建言直達，如油漆多種、各種防腐層、粉噴涂等不久前。

測量方式：將儀器探頭垂直接觸被測物的表面用上了，儀器將自動開機并測得數(shù)據(jù)。注意：測量時務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面能力建設。

尼克斯膜厚儀QNIX4200調(diào)零

儀器在測量前關註，為減少測量誤差，應(yīng)在基體上取零位作基準無障礙∵B日來？梢杂脹]有涂層的工件表面也可以用隨儀器帶基體。用儀器測量基體發揮重要帶動作用，如顯示0意向，表明已是零位，不用再調(diào)零文化價值。如不顯示0形式，則需要調(diào)零。將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上不斷完善，不要抬起數字化，按一下儀器上的紅鍵松開，液晶顯示一組數(shù)后基礎上，拿開儀器各領域，液晶顯示0，調(diào)零完畢保持競爭優勢。注意：由于工件表面粗糙度的原因進行培訓，調(diào)零后發展機遇，再測時不一定是零位，這是正撤ㄖ瘟α?，F(xiàn)象全技術方案。

尼克斯膜厚儀QNIX4200顯示方式

Fe：測量鐵磁性基體模式

NFe：測量非磁性基體模式

Err：操作失誤

INFI：探頭模式與被測基體不符

BAT：電量不足，需換電池

技術(shù)參數(shù)