Tecnai G2 F20是一個(gè)真正多功能達到、多用戶環(huán)境的200kV工具。它以其將各種透射電鏡技術(shù)（包括TEM不可缺少、EFTEM蓬勃發展、Lorentz透鏡、STEM積極回應、EDX/EELS頻譜成像等）方便靈活地有機(jī)組合, 形成強(qiáng)大的分析功能, 而在同類型儀器中*重要性。任務(wù)導(dǎo)向型用戶界面和自動(dòng)采集數(shù)據(jù)功能, 使用戶從必須首先成為電鏡專家才能獲得理想結(jié)果的壓力中解放出來(lái), 使他們專注于自己的研究工作。Tecnai G2的“*一體化”概念允許在不同的操作模式和數(shù)據(jù)采集技術(shù)之間快速切換, 切換過(guò)程中系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)回所有相關(guān)的操作設(shè)置多種場景。
Tecnai G2 F20以您實(shí)驗(yàn)室的現(xiàn)狀而構(gòu)建: 具有各種分析要求的多元化服務體系、不同應(yīng)用水平的操作者都要在上面工作。同時(shí), 這一TEM/STEM系統(tǒng)已經(jīng)為明天做好準(zhǔn)備, 它可以用新的功能進(jìn)行升級(jí), 以保證方便快速地進(jìn)行更*的數(shù)據(jù)采集擴大公共數據。 Tecnai G2 F20為通用納米分析技術(shù)透射電鏡平臺(tái)的設(shè)立了一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)深度。




1.高性能的透射電子成像、掃描透射成像和納米分析
2.所有的*分析技術(shù)集成于一體: TEM核心技術體系、HR-TEM開拓創新、STEM、HR-STEM初步建立、電子衍射綜合運用、EFTEM供給、EDS和EELS頻譜圖、全息技術(shù)和Lorentz透鏡技術(shù)實事求是、三維重構(gòu)技術(shù)進行探討、低劑量曝光技術(shù)、冷凍電鏡技術(shù)
3.多用戶環(huán)境下的方便和安全操作
4.適用于大量樣品的快捷分析
5.將來(lái)技術(shù), 今日應(yīng)用
6.基于Windows XP操作系統(tǒng)的用戶界面

參數(shù)：

1.信息分辨率極限
　　U-TWIN 0.12nm;
　　S-TWIN/X-TWIN 0.14 nm ; TWIN
2.點(diǎn)分辨率
　　U-TWIN 0.19nm ;
　　S-TWIN 0.24nm ;
　　X-TWIN 0.25nm ; TWIN 0.27nm
3.高分辨STEM分辨率
　　U-TWIN 0.14nm ;
　　S-TWIN 0.19nm ;
　　X-TWIN 0.18nm; TWIN 0.16nm
4.加速電壓 20-200kV,連續(xù)可調(diào)
5.電子束能量色散 <0.7eV
6.zui大束流 >100nA. 1nm束斑zui大束流>0.5nA.
7.樣品zui大傾角 S-TWIN +/- 40o ; TWIN +/- 70°
　Tomography樣品桿 +/- 70o
8.EDS立體角
　　X-TWIN 0.3sr
　　S-TWIN/U-TWIN 0.13sr