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- 公司名稱 翌穎科技(上海)有限公司
- 品牌
- 型號(hào)
- 所在地 上海
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時(shí)間 2024/9/27 14:06:27
- 訪問次數(shù) 50
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P-17是第八代臺(tái)式探針輪廓儀,是40多年的表面量測(cè)經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶進一步意見。該系統(tǒng)業(yè)界進行探討,支持對(duì)臺(tái)階高度、粗糙度服務水平、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量最新,其掃描可達(dá)200mm而無(wú)需圖像拼接。該系統(tǒng)結(jié)合了UltraLite®傳感器處理方法、恒力控制和超平掃描平臺(tái)重要作用,因而具備出色的測(cè)量穩(wěn)定性。 通過點(diǎn)擊式平臺(tái)控制活動上、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的高分辨率相機(jī)等功能有望,程序設(shè)置簡(jiǎn)便快速。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡導向作用、調(diào)平和分析算法方案,可以支持2D或3D測(cè)量。 并通過圖案識(shí)別十大行動、排序和特征檢測(cè)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量左右。
P-17 Stylus Profiler P-17支持從幾納米到一毫米的臺(tái)階高度測(cè)量,適用于生產(chǎn)和研發(fā)環(huán)境。該系統(tǒng)可以對(duì)臺(tái)階高度可靠保障、粗糙度自然條件、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量,其掃描可達(dá)200mm而無(wú)需圖像拼接開展。 P-17是第八代臺(tái)式探針輪廓儀互動互補,是40多年的表面量測(cè)經(jīng)驗(yàn)的結(jié)晶。該系統(tǒng)業(yè)界意向,支持對(duì)臺(tái)階高度意料之外、粗糙度、翹曲度和應(yīng)力進(jìn)行2D和3D測(cè)量形式,其掃描可達(dá)200mm而無(wú)需圖像拼接置之不顧。 該系統(tǒng)結(jié)合了UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺(tái)數字化,因而具備出色的測(cè)量穩(wěn)定性方便。 通過點(diǎn)擊式平臺(tái)控制、頂視和側(cè)視光學(xué)系統(tǒng)以及帶光學(xué)變焦的高分辨率相機(jī)等功能各領域,程序設(shè)置簡(jiǎn)便快速應用領域。 P-17具備用于量化表面形貌的各種濾鏡、調(diào)平和分析算法深入闡釋,可以支持2D或3D測(cè)量更加廣闊。 并通過圖案識(shí)別、排序和特征檢測(cè)實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)測(cè)量提高。 臺(tái)階高度:幾納米至1000μm 微力恒力控制:0.03至50mg 樣品全直徑掃描可以使用,無(wú)需圖像拼接 視頻:500萬(wàn)像素高分辨率彩色攝像機(jī) 圓弧校正:消除由于探針的弧形運(yùn)動(dòng)引起的誤差 軟件:簡(jiǎn)單易用的軟件界面 生產(chǎn)能力:通過測(cè)序、圖案識(shí)別和SECS/GEM實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)化 臺(tái)階高度:2D和3D臺(tái)階高度 紋理:2D和3D粗糙度和波紋度 形狀:2D和3D翹曲和形狀 應(yīng)力:2D和3D薄膜應(yīng)力 缺陷復(fù)檢:2D和3D缺陷表面形貌 大學(xué)紮實、研究實(shí)驗(yàn)室和研究所 半導(dǎo)體和化合物半導(dǎo)體 LED:發(fā)光二極管 太陽(yáng)能 MEMS:微機(jī)電系統(tǒng) 數(shù)據(jù)存儲(chǔ) 汽車 醫(yī)療設(shè)備 還有更多效高化,請(qǐng)與我們聯(lián)系以滿足您的要求產(chǎn)品描述
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