【主要功能】
采用磁性測(cè)量方法去創新，可檢測(cè)磁性金屬基體上非磁性覆蓋層的厚度(如鋼鐵合金和硬磁性鋼上的鋁足夠的實力、鉻、銅結構、鋅更適合、錫、橡膠溝通協調、油漆等)要素配置改革。
● 中文菜單；
● 兩種工作方式保障性；
● 數(shù)據(jù)刪除功能影響力範圍；
● 對(duì)界限外的測(cè)量值能自動(dòng)報(bào)警；
● 電源欠壓指示；
● 手動(dòng)和自動(dòng)兩種關(guān)機(jī)方式
● 兩種測(cè)量方式應用提升；
● 可儲(chǔ)存500個(gè)測(cè)量值主動性；
● 可設(shè)置界限；
【技術(shù)參數(shù)】
| 項(xiàng)目名稱 | Leeb230 | |
| 測(cè)頭類型 | F1 | |
| 測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | |
| 測(cè)量范圍 | 0 ~ 1250um | |
| 分辨率 | 0.1um | |
| 示值誤差 | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（3%H+1）um |
| 二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[（1~3）%H+1]um | |
| 測(cè)試條件 | *小曲率半徑 | 凸1.5mm 凹9mm |
| *小面積直徑 | φ7mm | |
| 基本臨界厚度 | 0.5mm | |
| 工作環(huán)境 | 溫度 | 0 ~ 40℃ |
| 濕度 | 20% ~ 90% | |
| 電源 | AAA堿性電池2節(jié) | |
| 電壓 | 3V | |
| 工作時(shí)間 | 100小時(shí) | |
| 外形尺寸 | 130*70*25 mm | |
| 重量 | 350g | |
| 外殼材質(zhì) | 金屬外殼 | |
| 標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)發展的關鍵、標(biāo)準(zhǔn)試片道路、基體、F1探頭真諦所在、堿性電池 | |
| 可選配件 | 標(biāo)準(zhǔn)試片指導、探頭 | |
| PC通訊 | 有 | |
儀器選用探頭的技術(shù)數(shù)據(jù)
| 探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N400 | N1 | CN02 | |||||
| 測(cè)量原理 | 磁性 | 渦流 | ||||||||||
| 測(cè)量范圍（μm） | 0～400 | 0～1250 | 0～10mm | 0～400 | 0～12500 | 10～200 | ||||||
| 測(cè)量精度μm | 一點(diǎn)校準(zhǔn) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±（3%H+1） | ±（3%H+10） | ±（3%H+1） | ±（3%H+1.5） | H+1) | |||||
| 二點(diǎn)校準(zhǔn) | ±（1～3％H+0.7） | H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+1.5] | --- | ||||||
| 低限分辨率 | 0.1 | 0.1 | 1 | 0.1 | 0.1 | 1 | ||||||
| *小曲率半徑(mm) | (凸)1 | 1.5 | 平直 | 10 | 1.5 | 3 | 僅為平面 | |||||
| *小面積直徑(mm) | ￠3 | ￠7 | ￠40 | ￠4 | ￠5 | ￠7 | ||||||
| 基本臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 2 | 0.3 | 0.3 | 無(wú)限制 | ||||||
測(cè)頭選用參考表
| 覆蓋層基體 | 有機(jī)材料等非磁性覆蓋層（如：漆料、涂漆充分、琺瑯進一步完善、搪瓷、塑料和陽(yáng)極化處理等） | 非磁性的有色金屬覆蓋層（如：鉻競爭力、鋅調整推進、鋁、銅機製性梗阻、錫機製、銀等） | |||
| 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度不超過(guò)100μm | 覆蓋層厚度超過(guò)100μm | ||
| 如鐵、鋼等磁性金屬 | 被測(cè)面積直徑大于30mm | F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm | F1型測(cè)頭 0～1250μm F10型測(cè)頭 0～10μm | F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm | F1型測(cè)頭 0～1250μm F10型測(cè)頭 0～10μm |
| 被測(cè)面積直徑小于30mm | F400型測(cè)頭0～400μm | F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm | F400型測(cè)頭0～400μm | F400型測(cè)頭0～400μm F1型測(cè)頭 0～1250μm | |
| 如銅集成應用、鋁探討、黃銅、鋅高效流通、錫等有色金屬 | 被測(cè)面積直徑大于10mm | N1型測(cè)頭0～1250μm N400測(cè)頭0～400μm | 僅用于銅上鍍鉻N1型測(cè)頭0～40μm N400測(cè)頭0～40μm | ||
| 被測(cè)面積直徑大于10mm | N400測(cè)頭0～400μm | N400測(cè)頭0～40μm | |||
| 塑料調解製度、印刷線路非金屬基體 | 被測(cè)面積直徑大于7mm | -- | -- | CN02型測(cè)頭10～200μm | |
