Nicomp動態(tài)光散射（DLS）系統(tǒng)可檢測0.3 nm到10μm的粒度分布及zeta電位。Nicomp 系統(tǒng)搭載著Nicomp 多峰算法更為一致，解決了復雜體系樣本顆粒分布檢測的難題等形式。它可以將一個次峰從主峰的尾巴中分離出來，幫助研究人員確定樣本主要成分的顆粒度大小品率。當嘗試開發(fā)新材料時相貫通，這是一個至關重要的參數(shù)，這將很大程度上影響產(chǎn)品的最終性能積極影響。 

Nicomp 3000 系列納米激光粒度儀采用動態(tài)光散射原理檢測分析樣品的粒度分布自動化方案。基于多普勒電泳光散射原理（Doppler Electrophoretic Light Scattering越來越重要，DELS）檢測ZETA電位線上線下。其主要用于檢測額納米級別及亞微米級別的體系，粒徑檢測范圍0.3nm-10μm醒悟，ZETA電位檢測范圍為+/-500mV數據顯示。動態(tài)光散射方法（DLS）從傳統(tǒng)的光散射理論中分離，關注光強隨著時間的波動行為也逐步提升。我們通過光強值的波動得到自相關函數(shù)記得牢，從而獲得衰減時間常量 T，根據(jù)公式換算獲得粒子的擴散速度 D（Diffusion重要的作用，擴散系數(shù)）

Zeta電位的檢測時更多可能性，在樣品插入電極去創新，施加電壓，根據(jù)樣品中電荷的遷移方向確認電荷正負性重要性，根據(jù)遷移速率確認Zeta電位值又進了一步。Nicomp Z3000設備集成兩種Zeta電位算法：頻譜分析法和相位分析法。相位分析法在很大程度上解決了頻譜分析儀在高鹽體系多元化服務體系，有機相體系檢測中的局限性規劃，PSS也是將相位分析法應用于Zeta電位檢測。

下圖為同一復雜體系樣品分別在高斯算法和Nicomp算法所呈現(xiàn)的結果機製。

Nicomp可搭配ZETA電位模塊對樣品的Zeta電位進行測量同期。電勢是粒子表面電荷，這也是分散體系穩(wěn)定性的重點評估依據(jù)使命責任。ZETA電位接近零的分散體通常不穩(wěn)定效果，容易聚集或者相分離。ZETA電位的值越高合規意識，表明穩(wěn)定性越好密度增加。Nicomp使用基于相位分析光散射（PALS）技術來測量粒子運動，非常的靈敏創新內容。測量可以在低電場強度下進行機遇與挑戰，這對敏感型樣品廣泛關註，如蛋白質或其他生物分子來說要溫和得多。ZETA電位見的用途是間接反映體系穩(wěn)定性集成技術，判斷基團修飾結果就能壓製。ZETA電位是非常重要的指標，可分析哪種配方隨著時間的推移會更穩(wěn)定適應能力。

Nicomp 3000 還可搭配多角度檢測模塊更優美，可更全面、更靈敏捕捉到樣品體系真實差異防控。下圖為兩種不同制備方法制備BSA蛋白質粒徑分布測試結果成效與經驗；圖5選用90度檢測角進行測試a,b分別為ColdPrep.和HotPrep.制備所得Nicomp其粒徑分布測試站果，如圖所示堅實基礎，對比1a和1b可知稍有不慎，兩種制備方法制者的蛋白質在8nm左右均有峰，此值為蛋白質的常規(guī)粒徑行動力；除此之外提供有力支撐，在50nm處1a和1b均有峰，但是峰型不是很明顯保供；此處推測是置白聚集物質最深厚的底氣；

如圖講故事，單聚體蛋白的粒徑大小為1.7nm

大功率激光器模塊

配量不同功率的激光發(fā)生器延伸，充分適配不同類型的復雜樣本檢測，采用大功率激光器服務好，測試靈敏度和耐用性更佳新趨勢。

雙控溫模塊

0℃-90℃樣品溫度控制，同時控制光源濕度共謀發展，增加激光光源使用壽命學習，增加連續(xù)測試時間。

多角度檢測模塊

Nicomp3000系列可以配置范圍在10°-175°,步長0.7"的多角度模塊聽得懂，通過調(diào)節(jié)角度進行檢測應用優勢，可提高對高龍粒子多分散體系粒徑分析的精調(diào)度。

Date：Mar. 19,2023

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