場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM廠家：日本電子株式會(huì)社型號(hào)：JEM-2100F技術(shù)參數(shù)：1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm優化服務策略；點(diǎn)分辨率：0.20nm關規定；STEM分辨率：0.2nm；2.樣品傾角：+/-40o兩個角度入手；放大倍數(shù)：60-1000000建強保護；電子槍：Schottly場(chǎng)發(fā)射電子槍

場(chǎng)發(fā)射透射電子顯微鏡-TEM

廠家：日本電子株式會(huì)社

型號(hào)：JEM-2100F

技術(shù)參數(shù)：

1.加速電壓：200KV；信息分辨率：0.14nm生產效率； 點(diǎn)分辨率：  0.20nm使命責任；STEM分辨率：0.2nm；

2.樣品傾角：+/-40o使用；放大倍數(shù)：60-1000000合規意識；電子槍：Schottly 場(chǎng)發(fā)射電子槍。

3.高性能的TEM成像有效性、STEM成像和納米分析現場；

4.配備英國(guó)Oxford  X-MAX能譜儀 。

應(yīng)用范圍：

1.應(yīng)用于材料科學(xué)力量、生命科學(xué)我有所應、醫(yī)療、制藥高效流通、半導(dǎo)體調解製度、納米技術(shù)等領(lǐng)域的顯微形貌、晶體結(jié)構(gòu)和相組織的觀察與分析功能；

2.各種材料微區(qū)化學(xué)成分的定性和半定量檢測(cè)應用的因素之一；

3.粉末、納米粒子形態(tài)和粒度測(cè)定預期；

4.復(fù)合材料界面特性的研究敢於監督。

表征項(xiàng)目：

可進(jìn)行TEM形貌 ，HRTEM高分辨 結構，選區(qū)電子衍射SAED,  STEM-HADDF暗場(chǎng)像 重要的作用， EDX元素定量，  Mapping元素分布 規模最大， 點(diǎn)掃描穩中求進、 線掃描 。

樣品要求：

粉末最深厚的底氣、液體樣都行協同控製；樣品量：粉末樣≥1mg  ，液體樣≥1ml 品質。