30多年來，Microtrac 公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度分布中的應(yīng)用切實把製度。作為行業(yè)的先鋒保供，早在1990年，納米顆粒分析儀器進行部署，NPA*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的能譜概念責任，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技術(shù)，結(jié)合動態(tài)光散射理論和*的數(shù)學(xué)處理模型保護好。

Nanotrac Wave納米粒度儀的儀器簡介：
納米粒度測量——動態(tài)光背散射技術(shù)
隨著顆粒粒徑的減小組建，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低特點，使得經(jīng)典動態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測（PCS）變得更加不確定深刻變革。40多年來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應(yīng)用和諧共生。作為行業(yè)的先鋒質生產力，早在1990年，超細(xì)顆粒分析儀器 UPA（Ultrafine Particle Analyzer）研發(fā)成功，*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念先進的解決方案，快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布相對較高。2001年，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技術(shù)信息，結(jié)合動態(tài)光散射理論和*的數(shù)學(xué)處理模型姿勢，將分析范圍延伸至0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達(dá)百分之四十，基本實(shí)現(xiàn)樣品的原位檢測首要任務。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率綠色化，直接比照因顆粒的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生的頻率漂移，綜合考慮被測體系的實(shí)時溫度和粘度發展，較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù)保持穩定，信號強(qiáng)度高出幾個數(shù)量級。另外面向，新型“Y”型梯度光纖探針的使用支撐作用，實(shí)現(xiàn)了對樣品的直接測量，*的減少了背景噪音建設項目，提高了儀器的分辨率最為突出。

Nanotrac Wave納米粒度儀的主要技術(shù)特點(diǎn)：

• 采用的動態(tài)光散射技術(shù)，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
• 的異相多譜勒頻移技術(shù)相結合，較之傳統(tǒng)的方法高效化，獲得光信號強(qiáng)度高出幾個數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性為產業發展。
• 的可控參比方法（CRM）範圍和領域，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度各項要求。
• 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)更高要求，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性新技術。
• 的快速傅利葉變換算法（FFT共同學習，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時間深入。
• 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾效高，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差全方位，比色皿器壁的折射與污染高效節能，分散介質(zhì)的影響影響力範圍，多重散射的衰減等先進技術，提高靈敏度