Nanotrac wave納米粒度及Zeta電位分析儀的儀器簡介：
納米粒度測量——動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)
隨著顆粒粒徑的減小提高，例如分子級別的大小，顆粒對光的散射效率急劇降低的特性，使得經(jīng)典動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)的自相關(guān)檢測（PCS）變得更加不確定交流。40多年來，Microtrac公司一直致力于激光散射技術(shù)在顆粒粒度測量中的應(yīng)用提供堅實支撐。作為行業(yè)的先鋒推進一步，早在1990年，超細(xì)顆粒分析儀器 UPA（Ultrafine Particle Analyzer）研發(fā)成功簡單化，*引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念力度，快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布。2001年系統性，利用背散射（Back-scattered）和異相多譜勒頻移（Heterodyne Doppler Frequency Shifts）技術(shù)勇探新路，結(jié)合動(dòng)態(tài)光散射理論和*的數(shù)學(xué)處理模型，NPA150/250將分析范圍延伸至0.8nm-6.5μm,樣品濃度更可高達(dá)百分之四十傳遞，基本實(shí)現(xiàn)樣品的原位檢測長足發展。異相多普勒頻移技術(shù)采用可控參考穩(wěn)定頻率，直接比照因顆粒的布朗運(yùn)動(dòng)而產(chǎn)生的頻率漂移穩步前行，綜合考慮被測體系的實(shí)時(shí)溫度和粘度結構不合理，較之于傳統(tǒng)的自相關(guān)技術(shù)，信號強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級逐步改善。另外意見征詢，新型“Y”型梯度光纖探針的使用，實(shí)現(xiàn)了對樣品的直接測量大大提高，*的減少了背景噪音的必然要求，提高了儀器的分辨率。
Zeta電位測量：
美國麥奇克有限公司（Microtrac Inc.）以其在激光衍射/散射技術(shù)和顆粒表征方面的獨(dú)到見解取得了一定進展，經(jīng)過多年的市場調(diào)研和潛心研究完善好，開發(fā)出一代Nanotrac wave微電場分析技術(shù)，融納米顆粒粒度分布與Zeta電位測量于一體積極參與，無需傳統(tǒng)的比色皿問題分析，一次進(jìn)樣即可得到準(zhǔn)確的粒度分布和Zeta電位分析數(shù)據(jù)。與傳統(tǒng)的Zeta電位分析技術(shù)相比交流研討，Nanotrac wave采用*的“Y”型光纖探針光路設(shè)計(jì)更加完善，配置膜電極產(chǎn)生微電場推動，操作簡單，測量迅速資源配置，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層信息，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池大力發展，*消除由于空間位阻（不同光學(xué)元器件間的傳輸損失豐富內涵，比色皿器壁的折射和污染，比色皿位置的差異產能提升，分散介質(zhì)的影響適應性，顆粒間多重散射等）帶來的光學(xué)信號的損失，結(jié)果準(zhǔn)確可靠通過活化，重現(xiàn)性好落地生根。
Nanotrac wave納米粒度及Zeta電位分析儀的技術(shù)參數(shù)：
| 粒度分析范圍: | 0.8nm-6.5µm |
| 重現(xiàn)性： | 誤差≤1% |
| Zeta電位測量范圍： | -200mV~200mV |
| 電導(dǎo)率： | 0-200ms/cm |
| 濃度范圍： | ppb-40% |
| 檢測角度： | 180° |
| 分析時(shí)間： | 30-120秒 |
| 準(zhǔn)確性： | 全量程米氏理論及非球形顆粒校正因子 |
| 測量精度: | 無需預(yù)選，依據(jù)實(shí)際測量結(jié)果健康發展，自動(dòng)生成單峰/多峰分布結(jié)果 |
| 理論設(shè)計(jì)溫度： | 0-90℃有效保障，可以進(jìn)行程序升溫或降溫 |
| 兼容性： | 兼容任何有機(jī)溶劑及大多數(shù)酸性或堿性溶液 |
| 測量原理： | 粒度測量：動(dòng)態(tài)光背散射技術(shù)和全量程米氏理論處理
Zeta電位測量：膜電極設(shè)計(jì)與“Y”型探頭形成微電場測量電泳遷移率
分子量測量：水力直徑或德拜曲線
技術(shù)：膜電極，微電場電勢測量非常重要，“Y”型光纖探針設(shè)計(jì)進一步提升，異相多普勒頻移，可控參比方法營造一處，快速傅立葉轉(zhuǎn)換算法改革創新，非球形顆粒校正因子 |
| 光學(xué)系統(tǒng)： | 3mW780nm半導(dǎo)體固定位置激光器，通過梯度步進(jìn)光纖直接照射樣品取得顯著成效，在固定位置用硅光二極管接受背散射光信號新模式，無需校正光路 |
| 軟件系統(tǒng)： | *的Microtrac FLEX軟件提供強(qiáng)大的數(shù)據(jù)處理能力，包括圖形不容忽視，數(shù)據(jù)輸出/輸入組織了，個(gè)性化輸出報(bào)告，及各種文字處理功能不要畏懼，如PDF格式輸出, Internet共享數(shù)據(jù)服務為一體，Microsoft Access格式（OLE）等。體積逐漸顯現，數(shù)量，面積及光強(qiáng)分布系統穩定性，包括積分/微分百分比和其他分析統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)拓展基地。數(shù)據(jù)的完整性符合21 CFR PART 11安全要求，包括口令保護(hù)實力增強，電子簽名和*等體系流動性。 |
| 外部環(huán)境： | 電源要求：90-240VAC探索創新，5A，50/60Hz
環(huán)境要求：溫度實現了超越，10-40°C
相對濕度：小于95% |
| 配置： | 有內(nèi)置和外置光纖測量探頭可選 |
Nanotrac wave納米粒度及Zeta電位分析儀的主要特點(diǎn)：
﹡ 采用的動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)新產品，引入能普概念代替?zhèn)鹘y(tǒng)光子相關(guān)光譜法
﹡ 的“Y”型光纖光路系統(tǒng)，通過藍(lán)寶石測量窗口橋梁作用，直接測量懸浮體系中的顆粒粒度分布長遠所需，在加載電流的情況下，與膜電極對應(yīng)產(chǎn)生微電場讓人糾結，測量同一體系的Zeta電位規模，避免樣品交叉污染與濃度變化。
﹡ 的異相多譜勒頻移技術(shù)基石之一，較之傳統(tǒng)的方法聯動，獲得光信號強(qiáng)度高出幾個(gè)數(shù)量級，提高分析結(jié)果的可靠性的發生。
﹡ 的可控參比方法（CRM）組成部分，能精細(xì)分析多譜勒頻移產(chǎn)生的能譜，確保分析的靈敏度新的動力。
﹡ 超短的顆粒在懸浮液中的散射光程設(shè)計(jì)技術節能，減少了多重散射現(xiàn)象的干擾，保證高濃度溶液中納米顆粒測試的準(zhǔn)確性廣泛認同。
﹡ 的快速傅利葉變換算法（FFT國際要求，F(xiàn)ast Fourier Transform Algorithm Method）,迅速處理檢測系統(tǒng)獲得的能譜，縮短分析時(shí)間鍛造。
﹡ 膜電極設(shè)計(jì)競爭激烈，避免產(chǎn)生熱效應(yīng)，能準(zhǔn)確測量顆粒電泳速度改善。
﹡ 無需比色皿空白區，毛細(xì)管電泳池或外加電極池，僅需點(diǎn)擊Zeta電位操作鍵信息化，一分鐘內(nèi)即可得到分析結(jié)果
﹡ 消除多種空間位阻對散射光信號的干擾形勢，諸如光路中不同光學(xué)元器件間傳輸?shù)膿p失，樣品池位置不同帶來的誤差取得明顯成效，比色皿器壁的折射與污染約定管轄，分散介質(zhì)的影響，多重散射的衰減等創新的技術，提高靈敏度
