主要特點(diǎn)■ 直接傳動(dòng)高精度轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)良的光學(xué)編碼器相結(jié)合不容忽視，確保了儀器的傳動(dòng)速度和精度講理論；■ 全部組件可以拆分為7個(gè)模塊，同時(shí)可以在5個(gè)獨(dú)立自由度上檢測(cè)樣品基礎上，適用于粉末各領域、薄膜和塊狀樣品；■ 可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識(shí)別和定量保持競爭優勢，可以分析晶體尺寸進行培訓、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算；■ 可以定量分析殘余奧氏體長效機製、多晶物篩查法治力量、晶體結(jié)構(gòu)分析、殘余應(yīng)力分析分享、薄膜分析共享、深度剖析、相變紋理和優(yōu)先取向方式之一、納米粒子分析生動；■ 光學(xué)系統(tǒng)可以在

主要特點(diǎn)
■ 直接傳動(dòng)高精度轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)良的光學(xué)編碼器相結(jié)合，確保了儀器的傳動(dòng)速度和精度創新能力；
■ 全部組件可以拆分為7個(gè)模塊新品技，同時(shí)可以在5個(gè)獨(dú)立自由度上檢測(cè)樣品範圍，適用于粉末、薄膜和塊狀樣品紮實做；
■ 可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識(shí)別和定量空間廣闊，可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算提供深度撮合服務；
■ 可以定量分析殘余奧氏體服務品質、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析組成部分、殘余應(yīng)力分析表現明顯更佳、薄膜分析、深度剖析技術節能、相變紋理和優(yōu)先取向指導、納米粒子分析；
■ 光學(xué)系統(tǒng)可以在 Bragg-Brentano 聚焦和 Johansson 或拋面鏡單色器自由切換國際要求；
■ 高分辨的反射技術(shù)流動性，讓檢測(cè)厚度精確至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件競爭激烈，從而可以進(jìn)行薄膜或?qū)哟畏治觯?/span>
■ 將拋面鏡單色器與晶體開(kāi)槽技術(shù)有機(jī)結(jié)合具體而言，并安裝在入射光束上，可以獲得高強(qiáng)度智慧與合力、低散射適合高分辨率測(cè)量的平行單色光喜愛；
■ 強(qiáng)大、簡(jiǎn)便的操作軟件使得檢測(cè)工作更加簡(jiǎn)單開放要求，軟件同時(shí)具有其他進(jìn)階功能向好態勢，可以幫助用戶(hù)對(duì)復(fù)雜的譜圖進(jìn)行分析。