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【儀器網(wǎng) 行業(yè)應(yīng)用】X射線衍射儀是利用X射線的衍射現(xiàn)象來測量樣品分子三維立體結(jié)構(gòu)或特征X射線衍射圖譜的檢測分析儀器很重要，廣泛應(yīng)用于薄膜分析、樣品質(zhì)地評估覆蓋、晶相和結(jié)構(gòu)監(jiān)測異常狀況、樣品應(yīng)力和應(yīng)變研究等不同的領(lǐng)域。
X射線衍射儀的基本原理：
晶體可以作為 X 射線的空間衍射光柵高效，即當(dāng)一束 X 射線通過晶體時(shí)將發(fā)生衍射應用創新，衍射波疊加的結(jié)果使射線的強(qiáng)度在某些方向上加強(qiáng)，在其他方向上減弱機構，體現(xiàn)在X射線衍射圖譜上就是具有不同的衍射強(qiáng)度的衍射峰生產製造。通過分析X射線衍射圖譜就可以測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu)。
X射線衍射儀的應(yīng)用：
1.物相分析
每一種晶體物質(zhì)和它的衍射花樣都是一一對應(yīng)的攜手共進，不可能有兩種晶體給出*相同的衍射花樣共同。隨著XRD標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)庫的日益完善，將樣品的XRD譜圖與標(biāo)準(zhǔn)譜圖進(jìn)行對比就可以確定樣品的物相組成經過。
2.測定點(diǎn)陣常數(shù)
點(diǎn)陣常數(shù)是晶體物質(zhì)的基本結(jié)構(gòu)參數(shù)簡單化。通過X射線衍射線的位置(θ )的測定可以獲得點(diǎn)陣常數(shù)，通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個(gè)點(diǎn)陣常數(shù)值明確了方向。
3.測定晶粒尺寸和點(diǎn)陣畸變
純譜線的形狀和寬度由試樣的平均晶粒尺寸系統性、尺寸分布以及晶體點(diǎn)陣中的主要缺陷決定勇探新路，故對線形作適當(dāng)分析，原則上可以得到上述影響因素的性質(zhì)和尺度等方面的信息傳遞。
X射線衍射儀的使用范圍：
金屬材料：半導(dǎo)體材料試驗、合金、超導(dǎo)材料開展攻關合作、粉末冶金材料製度保障；
無機(jī)材料：陶瓷材料、磁性材料逐步改善、催化劑意見征詢、礦物、水泥大大提高、玻璃的必然要求；
復(fù)合材料：碳纖維、纖維大分子取得了一定進展、工業(yè)廢棄物完善好；
有機(jī)材料：醫(yī)藥品、工程塑料積極參與、各種樹脂等部署安排。
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