X射線鍍層厚度測試儀集多年X熒光測厚儀經(jīng)驗(yàn)集聚,專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測厚儀。對工業(yè)電鍍調整推進、化鍍狀況、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測C製?蓮V泛應(yīng)用于光伏行業(yè)全過程、五金衛(wèi)浴、電子電氣參與水平、航空航天大型、磁性材料、汽車行業(yè)明確相關要求、通訊行業(yè)等領(lǐng)域重要意義。
X射線鍍層厚度測試儀行業(yè)應(yīng)用能量色散X熒光光譜儀,簡稱XRF深化涉外,是一種物理的元素分析方法體系,具有快速、無損開展試點、多種元素同時分析攜手共進、分析成本低。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛(wèi)浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車制造
貴金屬鍍飾......
設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
全新的下照式設(shè)計(jì)推進一步,一鍵式的按鈕經過,讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須,極大減少您擺放樣品的時間力度。
全新的光路系統(tǒng)明確了方向,大大減少了光斑的擴(kuò)散,實(shí)現(xiàn)了對更小產(chǎn)品的測試勇探新路。
搭配高分辨率可變焦攝像頭單產提升,配合高性能距離補(bǔ)正算法,實(shí)現(xiàn)了對不規(guī)則樣品(如凹凸面方法,拱形行動力,螺紋,曲面等)的異型測試面的精準(zhǔn)測試切實把製度。
硬件配置
采用高分辨率的SDD探測器保供,分辨率高達(dá)140EV進(jìn)口的大功率高壓,讓Ag,Sn等鍍層的測量能更加穩(wěn)定進行部署。
配備微聚焦的X光管責任,猶如給發(fā)動機(jī)增加了渦輪增壓,讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓保護好。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇:0.1*0.2mm組建;Φ0.15mm;Φ0.2mm;Φ0.3mm特點。貼心打造出適合您的那一款深刻變革。
軟件界面
人性化的軟件界面,讓操作變得更加便捷部署安排。曲線的中文備注搖籃,讓您的操作更易上手。儀器硬件功能的實(shí)時監(jiān)控推廣開來,讓您的使用更加放心推動。
對某物質(zhì)進(jìn)行X射線照射時,可以觀測到主要以下3種X射線。
(1) 螢光X射線
(2) 散亂X射線
(3) 透過X射線
SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理資源配置。X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片信息。另外也用于機(jī)場的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類大力發展。
簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息豐富內涵。
具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性產能提升。
SII的X射線裝置大致可分為以下2種產(chǎn)品發展。
管理表面鍍層鍍層厚度測定的SFT系列(螢光X射線鍍層厚度測定儀)
分析材料組成(濃度)的SEA系列(螢光X射線分析儀)
和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片總之。另外也用于機(jī)場的貨物檢查面向。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。
簡單地說螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息研學體驗。
具體地說,比如用不同的裝置測定食鹽(氯化鈉=NaCl)時,從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成建設項目。單純地看也許會認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測定含多種化合物的物質(zhì)時只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性。
SII的X射線裝置大致可分為以下2種產(chǎn)品落實落細。
管理表面鍍層鍍層厚度測定的SFT系列(螢光X射線鍍層厚度測定儀)
分析材料組成(濃度)的SEA系列(螢光X射線分析儀)