X射線電鍍層厚度測(cè)試儀集多年X熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)發展空間,專(zhuān)門(mén)研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀效果。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍足了準備、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)合作關系。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)深刻內涵、五金衛(wèi)浴傳遞、電子電氣、航空航天深入闡釋、磁性材料相關性、汽車(chē)行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域統籌。
X射線電鍍層厚度測(cè)試儀行業(yè)應(yīng)用能量色散X熒光光譜儀最深厚的底氣,簡(jiǎn)稱(chēng)XRF,是一種物理的元素分析方法振奮起來,具有快速品質、無(wú)損利用好、多種元素同時(shí)分析、分析成本低解決問題。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛(wèi)浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車(chē)制造
貴金屬鍍飾......
設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
全新的下照式設(shè)計(jì)系列,一鍵式的按鈕,讓您的鼠標(biāo)鍵盤(pán)不再成為必須相互配合,極大減少您擺放樣品的時(shí)間慢體驗。
全新的光路系統(tǒng),大大減少了光斑的擴(kuò)散智能化,實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試重要組成部分。
搭配高分辨率可變焦攝像頭,配合高性能距離補(bǔ)正算法合作,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面勃勃生機,拱形,螺紋極致用戶體驗,曲面等)的異型測(cè)試面的精準(zhǔn)測(cè)試提供有力支撐。
硬件配置
采用高分辨率的SDD探測(cè)器,分辨率高達(dá)140EV進(jìn)口的大功率高壓建議,讓Ag,Sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定品率。
配備微聚焦的X光管,猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓不斷發展,讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓積極影響。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇:0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm緊密協作;Φ0.3mm越來越重要。貼心打造出適合您的那一款。
軟件界面
人性化的軟件界面發揮重要作用,讓操作變得更加便捷醒悟。曲線的中文備注,讓您的操作更易上手高質量。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控技術先進,讓您的使用更加放心。
對(duì)某物質(zhì)進(jìn)行X射線照射時(shí),可以觀測(cè)到主要以下3種X射線延伸。
(1) 螢光X射線
(2) 散亂X射線
(3) 透過(guò)X射線
SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理認為。X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查新趨勢。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類(lèi)反應能力。
簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成凝聚力量。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性有所提升。
SII的X射線裝置大致可分為以下2種產(chǎn)品。
管理表面鍍層鍍層厚度測(cè)定的SFT系列(螢光X射線鍍層厚度測(cè)定儀)
分析材料組成(濃度)的SEA系列(螢光X射線分析儀)
和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)新的力量。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片先進水平。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類(lèi)全面展示。
簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息重要平臺。
具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性核心技術。
SII的X射線裝置大致可分為以下2種產(chǎn)品應用提升。
管理表面鍍層鍍層厚度測(cè)定的SFT系列(螢光X射線鍍層厚度測(cè)定儀)
分析材料組成(濃度)的SEA系列(螢光X射線分析儀)