X射線電鍍層厚度檢測(cè)儀集多年X熒光測(cè)厚儀經(jīng)驗(yàn)不難發現,專門研發(fā)的一款下照式結(jié)構(gòu)的鍍層測(cè)厚儀貢獻法治。對(duì)工業(yè)電鍍、化鍍發展需要、熱鍍等各種鍍層厚度進(jìn)行精準(zhǔn)檢測(cè)攻堅克難。可廣泛應(yīng)用于光伏行業(yè)顯示、五金衛(wèi)浴雙向互動、電子電氣、航空航天設計能力、磁性材料品牌、汽車行業(yè)、通訊行業(yè)等領(lǐng)域提供有力支撐。
X射線電鍍層厚度檢測(cè)儀行業(yè)應(yīng)用能量色散X熒光光譜儀應用,簡(jiǎn)稱XRF,是一種物理的元素分析方法品率,具有快速相貫通、無(wú)損、多種元素同時(shí)分析技術發展、分析成本低集聚效應。
應(yīng)用領(lǐng)域
電鍍行業(yè)
五金衛(wèi)浴
電子電器
磁性材料
航天新能源
汽車制造
貴金屬鍍飾......
設(shè)計(jì)亮點(diǎn)
全新的下照式設(shè)計(jì),一鍵式的按鈕重要手段,讓您的鼠標(biāo)鍵盤不再成為必須互動講,極大減少您擺放樣品的時(shí)間。
全新的光路系統(tǒng)像一棵樹,大大減少了光斑的擴(kuò)散過程中,實(shí)現(xiàn)了對(duì)更小產(chǎn)品的測(cè)試。
搭配高分辨率可變焦攝像頭能運用,配合高性能距離補(bǔ)正算法達到,實(shí)現(xiàn)了對(duì)不規(guī)則樣品(如凹凸面,拱形不可缺少,螺紋蓬勃發展,曲面等)的異型測(cè)試面的精準(zhǔn)測(cè)試。
硬件配置
采用高分辨率的SDD探測(cè)器積極回應,分辨率高達(dá)140EV進(jìn)口的大功率高壓重要性,讓Ag,Sn等鍍層的測(cè)量能更加穩(wěn)定。
配備微聚焦的X光管多種場景,猶如給發(fā)動(dòng)機(jī)增加了渦輪增壓多元化服務體系,讓數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性更上層樓規劃。
多種準(zhǔn)直器可搭配選擇:0.1*0.2mm;Φ0.15mm;Φ0.2mm深度;Φ0.3mm帶動擴大。貼心打造出適合您的那一款。
軟件界面
人性化的軟件界面開拓創新,讓操作變得更加便捷持續發展。曲線的中文備注,讓您的操作更易上手高效。儀器硬件功能的實(shí)時(shí)監(jiān)控溝通協調,讓您的使用更加放心。
對(duì)某物質(zhì)進(jìn)行X射線照射時(shí),可以觀測(cè)到主要以下3種X射線體系。
(1) 螢光X射線
(2) 散亂X射線
(3) 透過(guò)X射線
SII的產(chǎn)品是利用螢光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理保障性。X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查責任製。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類十分落實。
簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息。
具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成規則製定。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性製造業。
SII的X射線裝置大致可分為以下2種產(chǎn)品。
管理表面鍍層鍍層厚度測(cè)定的SFT系列(螢光X射線鍍層厚度測(cè)定儀)
分析材料組成(濃度)的SEA系列(螢光X射線分析儀)
和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)關規定。而透過(guò)X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片發展基礎。另外也用于機(jī)場(chǎng)的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類建強保護。
簡(jiǎn)單地說(shuō)螢光X射線裝置(XRF)和X射線衍射裝置(XRD)有何不同,螢光X射線裝置(XRF)能得到某物質(zhì)中的元素信息(物質(zhì)構(gòu)成,組成和鍍層厚度),X射線衍射裝置(XRD)能得到某物質(zhì)中的結(jié)晶信息同期。
具體地說(shuō),比如用不同的裝置測(cè)定食鹽(氯化鈉=NaCl)時(shí),從螢光X射線裝置得到的信息為此物質(zhì)由鈉(Na)和氯(Cl)構(gòu)成,而從X射線衍射裝置得到的信息為此物質(zhì)由氯化鈉(NaCl)的結(jié)晶構(gòu)成。單純地看也許會(huì)認(rèn)為能知道結(jié)晶狀態(tài)的X射線衍射裝置(XRD為好,但當(dāng)測(cè)定含多種化合物的物質(zhì)時(shí)只用衍射裝置(XRD)就很難判定,必須先用螢光X射線裝置(XRF)得到元素信息后才能進(jìn)行定性使命責任。
SII的X射線裝置大致可分為以下2種產(chǎn)品效果。
管理表面鍍層鍍層厚度測(cè)定的SFT系列(螢光X射線鍍層厚度測(cè)定儀)
分析材料組成(濃度)的SEA系列(螢光X射線分析儀)