PS50型三維表面形貌儀是一款科研版的三維表面形貌測量設備的可能性，采用*的白光共聚焦技術(shù)，可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試服務為一體，具有測量精度高問題，速度快，重復性好的優(yōu)點全會精神，該儀器性價比高系統穩定性，可用于取代傳統(tǒng)的探針式表面形貌儀與干涉式表面形貌儀。

1集中展示，采用白光共聚焦色差技術(shù)全技術方案，可獲得納米級的分辨率

2，測量具有非破壞性共享，測量速度快信息化，精確度高

3，測量范圍廣全面闡釋，可測透明非常激烈、金屬材料競爭力所在，半透明引人註目、高漫反射，低反射率溝通機製、拋光好宣講、粗糙材料(金屬、玻璃領先水平、木頭、合成材料、光學材料戰略布局、塑料事關全面、涂層、涂料狀態、漆技術節能、紙、皮膚廣泛認同、頭發(fā)國際要求、牙齒…)；

4鍛造，尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面

5競爭激烈，不受樣品反射率的影響

6，不受環(huán)境光的影響

7改善，測量簡單空白區，樣品無需特殊處理

8協調機製，Z方向,測量范圍大：為27mm

主要技術(shù)參數(shù)：

1，掃描范圍：50×50（mm）

2形勢， 掃描步長：0.1μm

3高質量，掃描速度：20mm/s

4， Z方向測量范圍：27mm

4迎來新的篇章， Z方向測量分辨率：2nm

產(chǎn)品應用：

MEMS共創美好、半導體材料、太陽能電池薄弱點、醫(yī)療工程覆蓋範圍、制藥、生物材料積極性，光學元件奮勇向前、陶瓷和*材料的研發(fā)