ST400型三維表面形貌儀是一款多功能的三維形貌儀的積極性，采用*的白光共聚焦技術(shù)同期，可實(shí)現(xiàn)對(duì)材料表面從納米到毫米量級(jí)的粗糙度測(cè)試，具有測(cè)量精度高使命責任，速度快效果，重復(fù)性好的優(yōu)點(diǎn)，該儀器可用于測(cè)量大尺寸樣品合規意識，并具有多種選項(xiàng)密度增加，包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺(tái)，原子力顯微鏡模塊創新內容，光學(xué)顯微鏡機遇與挑戰，特征區(qū)域定位等多種功能模塊。

1善於監督，采用白光共聚焦色差技術(shù)集成技術，可獲得納米級(jí)的分辨率

2，測(cè)量具有非破壞性更合理，測(cè)量速度快適應能力，精確度高

3，測(cè)量范圍廣各方面，可測(cè)透明防控、金屬材料，半透明適應性、高漫反射堅實基礎，低反射率、拋光重要作用、粗糙材料(金屬等地、玻璃、木頭完成的事情、合成材料物聯與互聯、光學(xué)材料穩定、塑料、涂層供給、涂料優勢與挑戰、漆、紙解決方案、皮膚趨勢、頭發(fā)、牙齒…)作用；

4相互配合，尤其適合測(cè)量高坡度高曲折度的材料表面

5，不受樣品反射率的影響

6著力增加，不受環(huán)境光的影響

7智能化，測(cè)量簡(jiǎn)單，樣品無(wú)需特殊處理

8處理，Z方向,測(cè)量范圍大：為27mm

主要技術(shù)參數(shù)：

1建設，掃描范圍：150mm×150mm(zui大可選600mm*600mm)

2， 掃描步長(zhǎng)：0.1μm

3助力各行，掃描速度：20mm/s

4前來體驗， Z方向測(cè)量范圍：27mm

4， Z方向測(cè)量分辨率：2nm

產(chǎn)品應(yīng)用：

MEMS確定性、半導(dǎo)體材料更加廣闊、太陽(yáng)能電池、醫(yī)療工程講故事、制藥非常完善、生物材料，光學(xué)元件自動化方案、陶瓷和*材料的研發(fā)