掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88是布魯克公司生產(chǎn)的新一代原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)，其大特點(diǎn)是系統(tǒng)設(shè)計(jì)高度模塊化貢獻力量，后期可在已有系統(tǒng)上自行配置并拓展其他功能。真正實(shí)現(xiàn)直接觀察條件下的定量納米力學(xué)表征大幅拓展；高級(jí)的XYZ方向樣品定位發行速度，配合可選傾斜和旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)；模塊化設(shè)計(jì)與時俱進，可搭載全套測(cè)試技術(shù)性能，包括800℃熱臺(tái)，劃痕綜合運用，擴(kuò)展量程的傳感器供給，電學(xué)偏壓等。
掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88：布魯克Hysitron PI 88
PI 88是布魯克公司生產(chǎn)的新一代原位納米力學(xué)測(cè)試系統(tǒng)實事求是，其大特點(diǎn)是系統(tǒng)設(shè)計(jì)高度模塊化進行探討，后期可在已有系統(tǒng)上自行配置并拓展其他功能。
真正實(shí)現(xiàn)直接觀察條件下的定量納米力學(xué)表征服務水平；高級(jí)的XYZ方向樣品定位最新，配合可選傾斜和旋轉(zhuǎn)樣品臺(tái)；模塊化設(shè)計(jì)處理方法，可搭載全套測(cè)試技術(shù)重要作用，包括800℃熱臺(tái)，劃痕，擴(kuò)展量程的傳感器充足，電學(xué)偏壓等進展情況。
掃描電鏡/FIB原位納米壓痕儀Hysitron PI 88
輕松搭載定量納米力學(xué)測(cè)試
深入了解納米尺度下的力學(xué)性能
在您實(shí)驗(yàn)室已有的熟知儀器上獲得力學(xué)數(shù)據(jù)，在您電鏡上擴(kuò)展如下功能綠色化發展，包括:
1.納米壓痕微懸臂彎曲
2.微柱或微顆粒壓縮
3.拉伸測(cè)試
4.納米劃痕
整個(gè)實(shí)驗(yàn)過(guò)程中始終如一的穩(wěn)定性
布魯克的原位解決方案專為電鏡環(huán)境下的出眾性能而設(shè)計(jì)應用的選擇。真空相容性/檢測(cè)器定位和機(jī)架柔度等相關(guān)因素均被嚴(yán)格考慮。我們專屬的傳感器技術(shù)確保實(shí)驗(yàn)過(guò)程中精細(xì)納米力學(xué)測(cè)量所需的靈敏度和穩(wěn)定性科普活動，而數(shù)位控制器提供了超快的反饋和數(shù)據(jù)采集率創新延展。因而應(yīng)力誘發(fā)變形過(guò)程之前、之中長期間、之后都得以高速捕獲加以分析基本情況。
穩(wěn)定性
Hysitron PI88 配套一套真空適用的布魯克納米尺度傳感器和導(dǎo)電金剛石壓頭。通過(guò)傳感器中的靜電力施以載荷高端化，電容記錄位移力量。低電流設(shè)計(jì)帶來(lái)的超低溫漂保證了靈敏度。與傳感器配合的是一套在XYZ三軸方向均>8mm的高級(jí)樣品定位載臺(tái)提單產，可實(shí)現(xiàn)在較大樣品上超好的橫向精度以及線性和靈活定位深入實施。在這一簡(jiǎn)潔平臺(tái)機(jī)械繼承的載臺(tái)和傳感器為使用者提供了納米力學(xué)測(cè)試所需的穩(wěn)定、剛性的基礎(chǔ)發展空間。
該系統(tǒng)通過(guò)視頻接口將材料的力學(xué)數(shù)據(jù)（載荷-位移曲線）與相應(yīng)SEM視頻之間實(shí)現(xiàn)時(shí)間同步效果，允許研究者在整個(gè)測(cè)試過(guò)程中定位壓頭并對(duì)變形過(guò)程成像。解決了傳統(tǒng)納米壓痕方法足了準備，只能通過(guò)光學(xué)顯微鏡或原位掃描成像觀察壓痕前后的形貌變化合作關系，因無(wú)法監(jiān)測(cè)中間過(guò)程，而終對(duì)載荷-位移曲線上的一些突變無(wú)法給出解釋甚至錯(cuò)誤解釋的問(wèn)題深刻內涵。
PI 88安裝于SEM傳遞，可以施加載荷，檢測(cè)位移深入闡釋，在電鏡下進(jìn)行壓痕相關性、壓縮、彎曲物聯與互聯、劃痕穩定、拉伸和疲勞等力學(xué)性能測(cè)試；此外紮實，通過(guò)升級(jí)電學(xué)效高化、加熱模塊，還可研究材料在力投入力度、電創造、熱等多場(chǎng)耦合條件下結(jié)構(gòu)與性能的關(guān)系不難發現。
800°C Heating
Electrical Characterization
Push-to-Pull Device
nanoDynamic Mode
nanoScratch Mode
