SpecEL-2000是一款操作便捷的臺式光譜橢偏儀，主要用于測量平整和半透明的樣品脫穎而出，例如硅晶圓片和玻璃片等薄膜拓展應用。

橢圓偏光技術是一種非接觸式、非破壞性結構，以光學技術測量表面薄膜特性的方法管理。其檢測原理是：當一束偏振光經過物體表面或界面時，其偏振極化狀態(tài)會被改變哪些領域。而橢偏儀就是通過探測樣品表面的反射光，來測量此改變（即反射光和入射光的振幅及相位的改變量）不斷創新，以決定表面特性薄膜的光學常數（n建立和完善、k值）及膜厚。

SpecEL-2000測試系統(tǒng)主要包括：寬帶光源參與水平、高性能線陣CCD光譜儀大型、導光器件、起偏器明確相關要求、樣品測試臺重要意義、檢偏器統籌發展、光學增強元件及測量分析軟件。

SpecEL-2000適合于探測薄膜厚度體系、光學常數以及材料微結構特性生產製造，通常應用于有薄膜存在的地方，其應用包括光學鍍膜和保護膜攜手共進、聚合物共同、光刻材料、平面平板顯示經過、計算機讀寫頭以及半導體集成電路制造的研究開發(fā)簡單化。另外，在生物明確了方向、醫(yī)學系統性、化學、電化學及材料研究等方面有著廣泛的應用單產提升。

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