通過薄膜表面與基底材料反射光的干涉現(xiàn)象集中展示，可快速可靠地測量半透明及透明膜的厚度。非接觸式測量體系流動性，不會破壞測試樣品探索創新。

NanoCalc測試系統(tǒng)主要包括：寬帶光源、高性能線陣CCD光譜儀實現了超越、傳輸光纖新產品、樣品測試臺及測量分析軟件。NanoCalc膜厚測量儀適合于在線膜厚測量創新能力，包括氧化層新品技、氮化硅薄膜，感光膠片及其它類型的薄膜求得平衡，NanoCalc也可測量在鋼紮實做、鋁、銅至關重要、陶瓷等物質(zhì)上的抗反射涂層提供深度撮合服務、抗膜涂層。

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