應(yīng)用領(lǐng)域

iEDX-100T鍍層測厚儀應(yīng)用于金屬電鍍鍍層分析領(lǐng)域；

技術(shù)指標(biāo)

多鍍層分析支撐能力，1～5層資源優勢；

測試精度：0.001 μm；

元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)特征更加明顯；

測量時(shí)間：10~30秒估算；

SDD探測器，能量分辨率為125±5eV方便；

探測器Be窗0.5mil（12.7μm）基礎上；

微焦X射線管50kV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）取得顯著成效；

6個(gè)準(zhǔn)直器及多個(gè)濾光片自動(dòng)切換新模式；

高清CCD攝像頭（200萬像素），準(zhǔn)確監(jiān)控位置不容忽視；

多變量非線性去卷積曲線擬合組織了；

高性能FP/MLSQ分析；

儀器尺寸：450×520×385mm說服力。

圖譜界面

軟件支持無標(biāo)樣分析搶抓機遇；

寬大分析平臺(tái)和樣品腔；

集成了鍍層分析界面和合金成份分析界面表示；

采用多種光譜擬合分析處理技術(shù)全面闡釋；

鍍層測厚分析可達(dá)到0.001μm。

分析報(bào)告結(jié)果

直接打印分析報(bào)告競爭力所在；
報(bào)告可轉(zhuǎn)換為PDF引人註目，EXCEL格式。

樣品分析圖譜：

測試結(jié)果界面：