動態(tài)光散射粒徑分布測定裝置新型號發展成就，高靈敏度、高精度的測量重要方式；*表征單一體系納米尺度粒子開展面對面；*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。主要應(yīng)用范圍為：陶瓷粒子非常重要、金屬納米粒子進一步提升、碳黑、制藥認為、病毒系統、涂料、化妝品重要意義、聚合物交流等、食品更加廣闊、CMP、顏料提高、油墨

HORIBA SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀
 

動態(tài)光散射粒徑分布測定裝置新型號可以使用，高靈敏度、高精度的測量紮實；*表征單一體系納米尺度粒子效高化；*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)。
主要應(yīng)用范圍為：陶瓷粒子投入力度、金屬納米粒子創造、碳黑、制藥貢獻法治、病毒設備製造、涂料、化妝品共享、聚合物信息化、食品、CMP生動、顏料新型儲能、油墨

粒子直徑測定：
超寬動態(tài)光散射范圍：0.3nm~8000nm
通過采用與NEDO國家項目共同開發(fā)的相關(guān)器，實現(xiàn)高性能化
在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中新品技，采用更低雜散光90度檢測光學(xué)系統(tǒng)
雙光路系統(tǒng)（90度和173度）適用于更寬更濃度范圍的樣品測量範圍，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束紮實做、聚合物等濃度樣品的測定

產(chǎn)品特點：
可測納米粒子的三個重要要素——粒子直徑空間廣闊、Zeta電位和分子量
樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定
HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池提供深度撮合服務，可以測定僅100uL的Zeta電位
廣泛應(yīng)用于膠制粒子服務品質、機能性納米粒子、高分子組成部分、膠束影響、核糖體、納米囊等的測定
取樣后互動講，僅需按測定開始按鈕即可穩定性，操作簡單

粒子直徑分布測定圖例

*（卵清蛋白） 醋酸緩沖劑pH4.3              鹽酸硫胺素（*1鹽酸鹽）
分子量：約14000                                              分子量：337 
濃度：0.1mg/ml                                               濃度：300mg/ml 
平均直徑：4.0nm             平均直徑：0.5nm

Zeta電位

NIST SRM1980 α-FeOOH   電泳遷移率：2.53±0.12umcm/Vs
<測定結(jié)果>電泳遷移率：2.53umcm/Vs，Zeta電位：32.9mV

LUDOX TM SiO2過程中，0.01mol/L KCI
<測定結(jié)果>Zeta電位：-38.3mV