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返回產品中心>簡介 WITec alpha 300S掃描近場光學顯微鏡是一種純近場光學顯微鏡上高質量,在很多樣品上都可獲得一致的超高分辨率,并且擁有透射與反射式兩種模式廣度和深度。 該近場光學顯微鏡不同于其他的超分辨顯微鏡深入交流,如 STED 和 STORM,后二者往往受限于熒光染料分子的可選種類及特殊的激發(fā)光源加強宣傳。 alpha300S 系統(tǒng)采用軟件可控的快速自動進針及調節(jié)等自動測試流程雙向互動,操作非常簡便、直觀設計能力。 由于近場光學信號極其微弱,alpha300 S 近場光學顯微鏡配備高靈敏單光子計數(shù)的光電倍增管或雪崩二極管深入開展,并同時提供檢測器快速超載保護更為一致。更重要的是,UHTS 光譜儀可與 alpha300S系統(tǒng)兼容技術的開發,實現(xiàn)近場光譜與成像測量研究與應用。 產品特性 突破衍射極限的空間光學分辨率(橫向約 60 nm) 的 SNOM 探針技術 在空氣與液體中均可使用 包含多種原子力與光學顯微鏡模式 非破壞性、無需標記的超高分辨成像技術更高效,基本不需要樣品制備 可升級到關聯(lián)的共聚焦拉曼成像和近場拉曼成像 集成三種技術到一臺儀器上:共聚焦顯微鏡, AFM 和 SNOM
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