1：SiC 研磨紙的橫切面 l 2：膠合板的橫切面 l 3：-120°C 條件下制備的同軸聚合物纖維 (溶于水) l 4：通過 Leica EM TIC 3X (配旋轉(zhuǎn)載物臺) 處理展現(xiàn)的油頁巖 (納米孔)發揮重要作用，總樣品直徑為 25 mm
可復(fù)制的結(jié)果
Leica EM TIC 3X 三離子束切割儀可制備橫切面和拋光表面，用于掃描電子顯微鏡 (SEM)講道理、微觀結(jié)構(gòu)分析 (EDS發展目標奮鬥、WDS、Auger更多的合作機會、EBSD) 和 AFM 科研工作延伸。
使用 Leica EM TIX 3X，您幾乎可以在室溫或冷凍條件下服務好，對任何材料實現(xiàn)高品質(zhì)的表面處理新趨勢，盡可能顯示樣品近自然狀態(tài)下的內(nèi)部結(jié)構(gòu)。
帶來的便利共謀發展！
效率
對于離子束研磨機的效率來說學習，真正重要的是同時具備出色的品質(zhì)結(jié)果和高產(chǎn)量。與前代版本相比聽得懂，全新版本不僅切割速度提高了一倍應用優勢，其*的三離子束系統(tǒng)還優(yōu)化了制備質(zhì)量高質量發展，并縮短了工作時間。一次可處理樣品多達 3 個高效節能， 并可在同一個載物臺上進行橫切和拋光影響力範圍。
工作流程解決方案可安全、高效地將樣品傳輸至后續(xù)的制備儀器或分析系統(tǒng)新創新即將到來。
靈活的系統(tǒng) — 隨時滿足您的需求
憑借可靈活選擇的載物臺邁出了重要的一步，Leica EM TIC 3X 不僅是進行高產(chǎn)量處理的理想設(shè)備，還適用于委托檢測的實驗室設施。根據(jù)您的需求需求，可選擇以下可互換的載物臺對 Leica EM TIC 3X 進行個性化配置：
- 標準載物臺
- 多樣品載物臺
- 旋轉(zhuǎn)載物臺
- 冷卻載物臺或
- 真空冷凍傳輸對接臺
用于制備標準樣品、高產(chǎn)量處理規模設備，以及在低溫條件下制備對高溫異常敏感的樣品真諦所在，例如聚合物、橡膠或生物材料競爭力。
環(huán)境控制型工作流程解決方案
憑借與 Leica EM TIC 3X 配套的 VCT 對接臺接口，可為易受環(huán)境影響的樣品和/或低溫樣品提供出色的刨平工作流程進一步完善，此類樣品包括
- 生物材料集聚，
- 地質(zhì)材料
- 或工業(yè)材料。
隨后調整推進，這些樣品會在惰性氣體/真空/冷凍條件下狀況，被傳輸至我們的鍍膜系統(tǒng) EM ACE600 或 EM ACE900 和/或 SEM 系統(tǒng)。
標準的工作流程解決方案 — 與 Leica EM TXP 產(chǎn)生協(xié)同效應(yīng)
在使用 Leica EM TIC 3X 之前不斷創新，通常需要進行機械準備工作建立和完善，以便盡可能接近感興趣區(qū)域。Leica EM TXP 是一種*的標靶面拋光系統(tǒng)參與水平，開發(fā)用于樣品的切割和拋光大型，為 Leica EM TIC 3X 等儀器進行后續(xù)技術(shù)處理做好充分準備
Leica EM TXP 經(jīng)專業(yè)設(shè)計，利用鋸切明確相關要求、銑削重要意義、研磨和拋光技術(shù)對樣品進行預(yù)制。 對于需要精準定位以及難以制備的挑戰(zhàn)性樣品深化涉外，它能提供出色的結(jié)果體系，令處理變得輕松簡單。
