當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 行業(yè)專用儀器>其它行業(yè)專用儀器>其它> NANOVEA非接觸式三維表面形貌儀
返回產(chǎn)品中心>NANOVEA非接觸式三維表面形貌儀
參考價 | 面議 |
- 公司名稱 上海艾堯科學(xué)儀器有限公司
- 品牌
- 型號
- 所在地
- 廠商性質(zhì) 其他
- 更新時間 2020/10/29 15:57:31
- 訪問次數(shù) 382
當(dāng)前位置:儀器網(wǎng) > 產(chǎn)品中心 > 行業(yè)專用儀器>其它行業(yè)專用儀器>其它> NANOVEA非接觸式三維表面形貌儀
返回產(chǎn)品中心>參考價 | 面議 |
NANOVEA ST400非接觸式三維形貌儀
產(chǎn)品簡介
ST400型三維表面輪廓儀是一款多功能的三維形貌儀優勢,采用的白光共聚焦技術(shù)善謀新篇,可實現(xiàn)對材料表面從納米到毫米量級的粗糙度測試,具有測量精度高便利性,速度快方法,重復(fù)性好的優(yōu)點,該儀器可用于測量大尺寸樣品提供有力支撐,并具有多種選項切實把製度,包含360°旋轉(zhuǎn)工作臺,原子力顯微鏡模塊最深厚的底氣,光學(xué)顯微鏡協同控製,特征區(qū)域定位等多種功能模塊。
產(chǎn)品原理:采用白光共聚焦色差技術(shù)品質,可獲得納米級的分辨率
- 利用白光點光源試驗,光線經(jīng)過透鏡后產(chǎn)生色差,不同波長的光分開后入射到被測樣品上開展攻關合作。
- 位于白光光源的對稱位置上的超靈敏探測器系統(tǒng)用來接收經(jīng)被測點漫反射后的光製度保障。
- 根據(jù)準(zhǔn)共聚焦原理,探測器系統(tǒng)只能接收到被測物體上單點反射回來的特定波長的光的有效手段,從而得到這個點距離透鏡的垂直距離統籌推進。
- 再通過點掃描的方式可得到一條線上的坐標(biāo),即X-Z坐標(biāo)
- 后以S路徑獲得物體每個點的三維X-Y-Z坐標(biāo)
- 后將采集的三維坐標(biāo)數(shù)據(jù)交給專業(yè)的三維處理軟件進(jìn)行各種表面參數(shù)的分析關鍵技術。
- 軟件能夠自動獲取用戶關(guān)心的表面形貌參數(shù)了解情況。
產(chǎn)品特性:
- 采用白光共聚焦色差技術(shù),可獲得納米級的分辨率
- 測量具有非破壞性,測量速度快重要的,精確度高
- 測量范圍廣開展研究,可測透明、金屬材料相互融合,半透明首要任務、高漫反射,低反射率不同需求、拋 光發展、粗糙材料(金屬、玻璃總之、木頭面向、合成材料、 光學(xué)材料工藝技術、塑料效率、涂層、涂料近年來、漆講道理、紙、皮膚技術先進、頭發(fā)更多的合作機會、牙齒…);
- 尤其適合測量高坡度高曲折度的材料表面
- 不受環(huán)境光的影響
- 測量簡單認為,樣品無需特殊處理
- Z方向測量范圍大:為27mm
主要功能:
- 可創(chuàng)建任意區(qū)域的2D曲線圖或2D等高線分布圖服務好;
- 可創(chuàng)建任意區(qū)域的3D圖像;
- 自動得到樣品的一維線粗糙度參數(shù)(Ra,Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Rq,Rsk,Rku)長效機製;
- 自動得到樣品的二維面粗糙度(Sa,Sp,Sq,Sv,Sz,Ssk,Sku)講實踐;
- 可得到樣品的平整度,波紋度等參數(shù)奮戰不懈;
- 自動校準(zhǔn)功能市場開拓,例如粗糙度,一般情況下對于曲面樣品大大縮短,首先展平要落實好,然后自動給出粗糙度的參數(shù);
- 具有尺寸測量:長度更默契了,寬度先進技術,角度,深度,臺階高度不合理波動;
- 可測孔洞磨損面積宣講手段,磨損體積等參數(shù)重要工具;
- 具有功率譜密度測試功能;
- 具有分形統(tǒng)計功能基礎;
......
主要技術(shù)參數(shù):
- XY全自動大掃描范圍:150×150(mm)
- XY掃描步長:0.1μm
- 大掃描速度:20mm/s
- Z方向大測量范圍:27mm
- Z方向測量分辨率:2nm
產(chǎn)品應(yīng)用:
MEMS性能、半導(dǎo)體材料、太陽能對外開放、摩擦磨損、汽車深入交流研討、腐蝕資料、砂紙、巖石等關註度。
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
*您想獲取產(chǎn)品的資料:
個人信息: