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——(可擴展為光電流成像系統(tǒng))


產(chǎn)品簡介

Nanobase共聚焦拉曼成像光譜儀系統(tǒng)采用透射式光路設(shè)計,提高了產(chǎn)品的靈敏度和穩(wěn)定性。*的振鏡掃描技術(shù)能夠在臺面固定不動的情況下實現(xiàn)快速二維成像掃描結構。該技術(shù)在聯(lián)用光電流成像系統(tǒng)載臺時優(yōu)勢明顯管理,并且可擴展增加熒光壽命檢測系統(tǒng)。

XperRam C series是基礎(chǔ)款能力建設,采用一個532nm激光器激發(fā)模樣,集成了奧林巴斯顯微鏡,可以測量樣品的Raman/PL的光譜信號和mapping(Image)圖像建立和完善。光譜信號強提供了遵循,掃描速度快,大型。



系統(tǒng)光路



拉曼成像mapping


(a) MoS2 sample microscope image (b)50x50µm size 0.3µm step Intensity image

(c) 30x30µm size 0.1µm step Intensity image (d)30x30µm size 0.1µm step Frequency image



產(chǎn)品特點

?超高的性價比(免稅僅五十萬)

?平臺不動服務效率,采用*的振鏡掃描技術(shù)

? 具有優(yōu)異的掃描分辨率和重復(fù)性

(激光掃描分辨率< 0.02 um & 重復(fù)性< 0.1 μm)

? 體相全息光柵光譜儀(光透過率>90%,比反射式光柵高30%,信號傳輸效率更高)

? 具有Raman/PL等多種測量模式,可擴展為光電流成像功能

? 結(jié)構(gòu)緊湊,模塊化設(shè)計

? 掃描速度快,掃描范圍大200µm x 200µm范圍內(nèi)高速成像 & 2D Mapping

應(yīng)用領(lǐng)域

石墨烯,二維材料重要意義,生物樣本統籌發展,半導(dǎo)體工業(yè),碳納米管體系,碳材料生產製造,太陽能電池,儲能材料攜手共進,納米纖維分布共同,探測器光電性能檢測,晶圓體分析經過,制藥分析簡單化,納米材料檢測,生物細胞成像明確了方向,微塑料檢測設計,金剛石微粉檢測。


基本參數(shù)


激光器

? 一個CW DPSS激光器

? 激光器波長:405nm/532nm/633nm(532nm通用型號)

? 輸出:大100mW

顯微鏡

? 奧林巴斯顯微鏡:BX4X, BX5X, BX61 (正置)

? 反射式/透射式LED照明

? 物鏡:標配(40X改進措施, NA=0.75) 選配:多種倍率和超長焦距物鏡

? 透過率:>60% (360nm~1000nm)

掃描模塊

? 掃描面積:200um×200um (大)

? 掃描精度: 小于0.02 um(分辨率)就此掀開, <0.1um(重復(fù)性)

? 小步進:0.1um

? 掃描速度:>20 譜/秒

探測器

? 科學(xué)級TEC制冷CCD

? 分辨率:1932×1452 Pixels

光譜范圍

? 大 203750px-1

? 低:250px-1(需額外加低波數(shù)模塊,通用型號1250px-1

光柵選擇

? 300/600/1200/1800/2400 lpmm (可選)

其它附加選項

? 光電流探針臺

? 偏振控制

? 功率控制ND濾波片



使用Nanobase XperRam Compact系列拉曼成像光譜儀發(fā)表的部分文獻:


1. Ising-Type Magnetic Ordering in Atomically Thin FePS3gnetic Ordering in Atomically Thin FePS3
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2. Electrically conductive cement mortar: Incorporating rice husk-derived high-surface-area graphene
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3. Wafer-Scale van der Waals Heterostructures with Ultraclean Interfaces via the Aid of Viscoelastic Polymer
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