ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
典型應(yīng)用：
綜合穩(wěn)定水泥漿連日來，陶瓷，化學(xué)機(jī)械研磨認為，煤漿系統，涂料，化妝品，環(huán)境保護(hù)禪選法礦物富集，食品工業(yè)國際要求，乳膠科技實力，微乳健康發展，混合分散體系，納米粉，無水體系，油漆成像材料堅實基礎。
主要特點(diǎn)：
1）能分析多種分散物的混合體；
2）無需依賴Double Layer模式重要作用，精確地判定等電點(diǎn)等地；
3）可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系；
4）可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾尤為突出；
5）可精確測量無水體系規定；
6）Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進(jìn)行電位測量空間載體；
7）樣品的高濃度可達(dá)60%(體積比)高質量，被測樣品無需稀釋，對(duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測量；
8）具有自動(dòng)電位滴定功能解決方案；
優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)被測樣品無需稀釋趨勢；
2)排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾有力扭轉；
3)不需定標(biāo)上高質量；
4)能分析多種分散物的混合體；
5)高精度廣度和深度；
6)所檢側(cè)粒徑范圍款從5 nm至1000um
ZetaAPS高濃度納米粒度及Zeta電位分析儀
優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)無需定標(biāo)深入交流；
2)能測更寬的粒徑范圍；
3)無需依賴Double Layer模式
4)無需依賴( electric surface properties)電表面特牲加強宣傳；
5)零表面電荷條件下也可測量粒徑臺上與臺下；
6)可適用于無水體系；
7)可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系技術發展；
優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢：
1)無需稀釋集聚效應，固合量高達(dá)60%；
2)可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾重要手段；
3)高精度(±0.1mv)互動講；
4)低表面電荷(可低至0. 1mv)；
5)electrosmotic flow不影響測量像一棵樹；
6)對(duì)流(convection)不影響測量講故事；
7)可精確測量無水體系；
技術(shù)參數(shù)：
1)所檢測粒徑范圍寬：從5 nm至1000um性能穩定；
2)可測量參數(shù)：粒度分布全面革新、固含量、Zeta電位情況正常、等電點(diǎn)IEP行業分類、E5A、電導(dǎo)率提高鍛煉、PH數據顯示、溫度、聲衰減也逐步提升；
3)Zeta電位測量范圍：+/-200 mv記得牢，低表面電荷(可低至0. 1mv)，高精度(±0.1mv);
4)零表面電荷條件下也可測量粒徑重要的作用；
5)允許樣品濃度：0.1-60%(體積百分?jǐn)?shù))更多可能性；
6)樣品體積：30-230ml；
7)PH范圍：0~14;
8)電導(dǎo)率范圍：0~10 s/m
