Sals小角激光散射圖像儀適合研究聚合物支撐作用、液晶等高分子球晶的大小研學體驗，準(zhǔn)確的獲取Hv、Vv圖像最為突出。且測(cè)試快速又不破壞試樣落實落細，對(duì)光學(xué)顯微鏡難以確認(rèn)的小球晶能有效的測(cè)量，還能在動(dòng)態(tài)條件下快速測(cè)定結(jié)構(gòu)隨時(shí)變化高效化，是目前研究聚合物聚態(tài)結(jié)構(gòu)的有效方法製高點項目。它可用來(lái)研究聚合物的結(jié)晶過(guò)程為產業發展、結(jié)晶形態(tài)、球晶大小以及聚合物薄膜在拉伸過(guò)程中形態(tài)結(jié)構(gòu)的變化有所增加。

Sals小角激光散射圖像儀

一服務好、產(chǎn)品簡(jiǎn)介

Sals小角激光散射圖像儀適合研究聚合物、液晶等高分子球晶的大小反應能力，準(zhǔn)確的獲取Hv共謀發展、Vv圖像。且測(cè)試快速又不破壞試樣結構重塑，對(duì)光學(xué)顯微鏡難以確認(rèn)的小球晶能有效的測(cè)量聽得懂，還能在動(dòng)態(tài)條件下快速測(cè)定結(jié)構(gòu)隨時(shí)變化，是目前研究聚合物聚態(tài)結(jié)構(gòu)的有效方法高質量發展。它可用來(lái)研究聚合物的結(jié)晶過(guò)程全方位、結(jié)晶形態(tài)、球晶大小以及聚合物薄膜在拉伸過(guò)程中形態(tài)結(jié)構(gòu)的變化影響力範圍。

二大局、主要技術(shù)指標(biāo)與性能

三邁出了重要的一步、儀器性能

1. 采用CMOS彩色數(shù)字?jǐn)z像機(jī)實(shí)時(shí)攝錄Hv有序推進、Vv等光散射圖像并轉(zhuǎn)存于計(jì)算機(jī)中；由四葉瓣結(jié)構(gòu)直接計(jì)算球晶需求。
2. 樣品池溫度從常溫30-350度可通過(guò)計(jì)算機(jī)精確控制配套設備，并且可程序升溫、程序降溫相對開放；測(cè)溫精度±0.1℃推進高水平。
3. 能滿足低粘液態(tài)體系（如微乳液聚合）和高粘體系的實(shí)時(shí)測(cè)量。
4. 大散射角度60度拓展應用。
5. 程序可通過(guò)光強(qiáng)分布信號(hào)生產創效，判定入射光的穩(wěn)定性。
6. 偏振系統(tǒng)：包括起偏鏡和檢偏鏡管理。起偏鏡是固定的優化上下，檢偏鏡可以轉(zhuǎn)動(dòng)360°。
7. 可以任意設(shè)定自動(dòng)采集速度(如0.3秒敢於挑戰、1秒不斷創新、1分鐘等)。
8. 通過(guò)程序?qū)Σ杉降膱D像數(shù)據(jù)進(jìn)行處理提供了遵循、包括背景光的扣除參與水平、散射光強(qiáng)的校正，程序提供選項(xiàng)（如是否扣除背景光）服務效率，強(qiáng)數(shù)據(jù)處理能力明確相關要求。
9. 采集到的數(shù)據(jù)（圖像）作為數(shù)據(jù)庫(kù)保留重要意義，程序可以調(diào)用數(shù)據(jù)庫(kù)的任一組數(shù)據(jù)（圖像）進(jìn)行處理，得到相關(guān)的計(jì)算結(jié)果并繪圖（實(shí)時(shí)l-q(散射光驅(qū)與散射矢量)曲線深化涉外、l-t曲線圖體系、二維contour圖、三維圖開展試點、計(jì)算結(jié)晶度等）攜手共進，能夠采用Office軟件對(duì)計(jì)算結(jié)果的數(shù)據(jù)文件進(jìn)行二次處理。
10. 同步得到透光率推進一步、吸光度的數(shù)據(jù)經過，并可繪制透光率-時(shí)間曲線圖。