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DELONG LVEM5掃描透射電鏡

參考價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

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DELONG LVEM5掃描透射電鏡是技術(shù)非常*的臺式透射電子顯微鏡向好態勢,也是極為有用的低加速電壓(5kV)透射電鏡平臺建設。同傳統(tǒng)透射電鏡(80-200kV)相比,增加了電子束與樣品的相互作用智能設備,從而提高了圖像對比度不可缺少,無需重金屬染色即可觀察輕元素樣品(如生物樣品), 避免染色造成的假象特點,觀察樣品真實(shí)結(jié)構(gòu)積極回應。

詳細(xì)信息 在線詢價(jià)

  • 技術(shù)*的小型臺式掃描透射電子顯微鏡(SEM+TEM)

  • ● 功能豐富的多用途臺式電子顯微鏡

  • ● 透射電鏡(TEM)、電子衍射(ED)又進了一步、掃描電鏡(SEM)多種場景、掃描透射電鏡(STEM)四種成像模式

  • ● 分辨率:1.2nm(TEM);3nm(SEM)

  • ● Schottky場發(fā)射電子槍:高亮度規劃、高對比度

  • ● 觀察生物樣品無需染色

  • ● 體積僅為傳統(tǒng)透射電鏡1/10擴大公共數據,操作維護(hù)簡單

 

臺式設(shè)計(jì):體積小巧,靈活性高帶動擴大,價(jià)格低

傳統(tǒng)透射電子顯微鏡體積龐大核心技術體系,對放置環(huán)境有著嚴(yán)格的要求開拓創新,并且需要制冷機(jī)等外置設(shè)備。通常會占據(jù)整間實(shí)驗(yàn)室必然趨勢。

LVEM5從根本上區(qū)別于傳統(tǒng)電鏡促進善治,尺寸較傳統(tǒng)電鏡縮小了90%,對放置環(huán)境無嚴(yán)格要求多樣性,無需任何外置冷卻設(shè)備發揮效力,可以安裝用戶所需的任意實(shí)驗(yàn)室或辦公室桌面,是目前性價(jià)比很高的電子顯微鏡明顯。

 
Schottky場發(fā)射電子槍:高亮度/高對比度電子槍類型是決定電鏡性能的重要參數(shù)安全鏈。LVEM5采用特殊設(shè)計(jì)的倒置肖特基(Schottky)場發(fā)射電子槍,提供高亮度高相干的電子束創新為先。電子槍使用壽命可達(dá)2000小時(shí)以上真正做到。傳統(tǒng)TEM多采用100kV以上電子束加速電壓,高能電子束不能區(qū)分輕材料中相近的密度和原子序數(shù)創新延展,對于輕元素樣品(C習慣、N、O樣品進展情況,生物樣品)難以獲得好的對比度,影響圖像質(zhì)量綠色化發展。LVEM5采用5kV低電壓設(shè)計(jì)至關重要,低電壓電子束對密度和原子序數(shù)有很高的靈敏度,對于小到0.005 g/cm3的密度差別仍能得到很好的圖像對比度效果。例如使用,對20nm碳膜樣品,5KV電壓下比100KV電壓下對比度提高10倍以上密度增加。而LVEM5的空間分辨率在低電壓下仍能達(dá)到1.2nm有效性。

未經(jīng)染色的老鼠心臟切片在80kV透射電鏡下得到的圖像,與LVEM5下得到的圖像機遇與挑戰。

DELONG LVEM5掃描透射電鏡采用5kV低加速電壓廣泛關註,圖像具有更好的對比度

TEM-STEM-ED-SEM 四種成像模式

TEM模式

DELONG LVEM5掃描透射電鏡是技術(shù)非常*的臺式透射電子顯微鏡,也是極為有用的低加速電壓(5kV)透射電鏡集成技術。同傳統(tǒng)透射電鏡(80-200kV)相比就能壓製,增加了電子束與樣品的相互作用,從而提高了圖像對比度適應能力,無需重金屬染色即可觀察輕元素樣品(如生物樣品)更優美, 避免染色造成的假象,觀察樣品真實(shí)結(jié)構(gòu)防控。

標(biāo)準(zhǔn)版

分辨率:2nm

放大倍數(shù): ~200,000x

boost 升級版

分辨率:1.2nm

放大倍數(shù) :~700,000 x

圖像采集:2048 x 2048

 

SEM模式

掃描電鏡(SEM)模式可用于觀察任意固體樣品成效與經驗。在SEM模式下適應性,LVEM5采用4分割背散射探測器,提供多個觀測角度稍有不慎。

普通掃描電鏡在觀察不導(dǎo)電樣品時(shí)重要作用,需要對樣品進(jìn)行噴金、噴碳處理相關性,以增加樣品導(dǎo)電性完成的事情。LVEM5的另一優(yōu)點(diǎn)在于,無需噴金可直接觀測不導(dǎo)電樣品穩定。

分辨率:3nm

放大倍數(shù): ~ 1,000,000x改造層面,

圖像采集: 2048 x 2048

STEM模式

在掃描透射電子顯微(STEM)模式下,電子束被聚焦到很小直徑優勢與挑戰,在樣品上進(jìn)行掃描經驗分享。可用于觀察厚度較厚的樣品或染色樣品趨勢。

分辨率:2nm

放大倍數(shù):~200,000 x

ED模式

可用于確定樣品的晶體結(jié)構(gòu)有力扭轉、結(jié)晶度、相組成.

小光圈直徑:100nm

TEM:碳納米管

STEM:聚乙烯單晶

ED:ZnO單晶

SEM:水凝膠

操作簡單一站式服務,換樣快捷慢體驗,成本低廉

LVEM5直觀的用戶界面、簡便的控制臺設(shè)計(jì)智能化,使用戶僅需極少的培訓(xùn)科技實力,即可輕松操作。讓用戶在使用時(shí)更加舒適建設。

不同于傳統(tǒng)透射電鏡每次更換樣品后需要幾十分鐘的抽真空時(shí)間在此基礎上,LVEM5更換樣品僅需3min,節(jié)省大量時(shí)間前來體驗。

LVEM5*購置費(fèi)用遠(yuǎn)低于傳統(tǒng)電鏡自主研發,且在一款儀器中集成了透射電鏡與掃描電鏡功能,真正的物超所值更加廣闊。LVEM5*的設(shè)計(jì)優(yōu)勢損耗,在使用中無需冷卻水,無需專業(yè)實(shí)驗(yàn)室不斷發展,維持成本極低積極影響。

 

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