Thick 8000國(guó)產(chǎn)x射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器設計能力。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定深入開展；黃金更為一致、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)技術的開發。

THICK8000型x射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀

1研究與應用、儀器概述

    Thick 8000國(guó)產(chǎn)x射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀是專(zhuān)門(mén)針對(duì)鍍層厚度測(cè)量而精心設(shè)計(jì)的一款新型儀器。主要應(yīng)用于：金屬鍍層的厚度測(cè)量更高效、電鍍液和鍍層含量的測(cè)定全面協議；黃金、鉑具體而言、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)工具。

2、性能優(yōu)勢(shì)

精密的三維移動(dòng)平臺(tái)
的樣品觀測(cè)系統(tǒng)
*的圖像識(shí)別
輕松實(shí)現(xiàn)深槽樣品的檢測(cè)
四種微孔聚焦準(zhǔn)直器喜愛，自動(dòng)切換
雙重保護(hù)措施重要的角色，實(shí)現(xiàn)無(wú)縫防撞
采用大面積高分辨率探測(cè)器，有效降低檢出限發力，提高測(cè)試精度
全自動(dòng)智能控制方式優勢領先，一鍵式操作!
開(kāi)機(jī)自動(dòng)退出自檢、復(fù)位
開(kāi)蓋自動(dòng)退出樣品臺(tái)共創美好，升起Z軸測(cè)試平臺(tái)推動並實現，方便放樣
關(guān)蓋推進(jìn)樣品臺(tái)薄弱點，下降Z軸測(cè)試平臺(tái)并自動(dòng)完成對(duì)焦
直接點(diǎn)擊全景或局部景圖像選取測(cè)試點(diǎn)
點(diǎn)擊軟件界面測(cè)試按鈕探討，自動(dòng)完成測(cè)試并顯示測(cè)試結(jié)果

3應用擴展、技術(shù)指標(biāo)

分析元素范圍：從硫（S）到鈾（U）
同時(shí)檢測(cè)元素：多24個(gè)元素效高性，多達(dá)五層鍍層
檢出限：可達(dá)2ppm發展基礎，薄可測(cè)試0.005μm
分析含量：一般為2ppm到99.9%
鍍層厚度：一般在50μm以?xún)?nèi)（每種材料有所不同）重復(fù)性：可達(dá)0.1%
穩(wěn)定性：可達(dá)0.1%
SDD探測(cè)器：分辨率低至135eV
采用*的微孔準(zhǔn)直技術(shù)，小孔徑達(dá)0.1mm連日來，小光斑達(dá)0.1mm
樣品觀察：配備全景和局部?jī)蓚€(gè)工業(yè)高清攝像頭
準(zhǔn)直器：0.3×0.05mm技術發展、Ф0.1mm相關性、Ф0.2mm與
Ф0.3mm四種準(zhǔn)直器組合
儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm
樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm
樣品臺(tái)尺寸：393(W)x 258 (D）mm
X/Y/Z平臺(tái)移動(dòng)速度：額定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平臺(tái)重復(fù)定位精度 ：小于0.1um
操作環(huán)境濕度：≤90%
操作環(huán)境溫度 15℃～30℃

4擴大公共數據、測(cè)試實(shí)例

國(guó)產(chǎn)x射線(xiàn)鍍層測(cè)厚儀在保證計(jì)數(shù)率的情況下能有效分辨相近元素深度，大大提高測(cè)試穩(wěn)定性、降低檢測(cè)限核心技術體系。

Thick 8000檢測(cè)譜圖

某國(guó)外儀器檢測(cè)譜圖

11次測(cè)量結(jié)果（Au-Cu)的穩(wěn)定性數(shù)據(jù)對(duì)比如下：