單點反射測量支架是一個探頭支架，用于厚度達150mm的光學層和其它基底的反射測量領域。
單點反射測量支架是一個探頭支架溝通機製，用于厚度達150mm的光學層和其它基底的反射測量。
這一探頭支架適于固定直徑達6.35mm的光學探頭和其它取樣設備註入新的動力，可以在一個不銹鋼支柱上上下滑行領先水平，調節(jié)高度可達63.5mm。
反射臺是電鍍臺面雙重提升，表面刻有同心圓以確定直徑戰略布局，用于放置圓形樣品。
| 尺寸（基座）: | 直徑為152.4mm |
| 尺寸（樣品區(qū)）: | 直徑為101.6mm* |
| 重量: | 620 g |
| 高度: | 垂直可調高度63.5mm |
*指帶有同心圓刻度的區(qū)域表現明顯更佳，用戶也可利用整個基座的區(qū)域狀態。
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