SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀
作為2010年3月推出的納米粒子解析裝置提升行動， SZ-100 具有諸多優(yōu)異性能：
●超小體積設(shè)計(jì)能力建設，將解析納米尺寸重要的三要素(粒子直徑、Zeta 電位研究進展、分子量測定)的測定囊括于一身無障礙。
●從 PPM 級的低濃度到百分之幾十的高濃度樣品，都能夠在保持原液狀態(tài)下進(jìn)行測量。
●微小容量電泳樣品池是 HORIBA Scientific 獨(dú)自研發(fā)發揮重要帶動作用，可以測定取樣調(diào)查僅100μL的 Zeta 電位意向。
●適合膠質(zhì)粒子意料之外、機(jī)能性納米粒子材料文化價值、高分子、膠束置之不顧、核糖體不斷完善、納米囊等廣泛應(yīng)用。
●操作簡單方便，進(jìn)樣基礎上、設(shè)定參數(shù)后，只要按開始按鈕即可得到測量結(jié)果應用領域。
儀器簡介：
SZ-100 是HORIBA Scientific 推出的納米粒子解析裝置保持競爭優勢，可更高靈敏度、高精度地評價(jià)單一納米粒子發展機遇，并能*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)長效機製。該儀器被廣泛應(yīng)用于陶瓷粒子、金屬納米粒子全技術方案、石炭分享、制藥、病毒信息化、顏料和涂料方式之一、化妝品、聚合物新型儲能、食品和CMP 等的檢測創新能力。
高靈敏度、高精度的測量
*表征單一體系納米尺度粒子
*解析納米粒子的物質(zhì)結(jié)構(gòu)
SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀技術(shù)參數(shù)：
●粒子直徑測定
超寬動(dòng)態(tài)光散射測量范圍: 0.3nm——8000nm
通過采用與NEDO國家項(xiàng)目共同開發(fā)的相關(guān)器一站式服務，實(shí)現(xiàn)高性能化廣度和深度。
在單一納米粒子光學(xué)系統(tǒng)中，采用更低雜散光90°檢測光學(xué)系統(tǒng)管理。
雙光路系統(tǒng)（90°和173°）適用于更寬濃度范圍的樣品測量顯示，可以進(jìn)行釉漿、顏料等高濃度樣品以及膠束效率和安、聚合物等低濃度樣品的測定設計能力。
●Zeta電位測定
通過安裝HORIBA自主研發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)微型樣品池，可以測定僅100μL的樣品深入開展。
SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀主要特點(diǎn)：
●超小體積設(shè)計(jì)
● 可測納米粒子的三個(gè)重要要素——粒子直徑更為一致、Zeta電位和分子量。
●樣品濃度從PPM到百分之幾十，SZ-100都能在原液狀態(tài)下取樣和測定研究與應用。
●HORIBA自主研發(fā)的微量電泳樣品池飛躍， 可以測定僅100μL的Zeta電位。
●廣泛應(yīng)用于膠質(zhì)粒子全面協議、 機(jī)能性納米粒子重要部署、 高分子、膠束工具、 核糖體智慧與合力、 納米囊等的測定。
●操作簡單重要的角色，進(jìn)樣開放要求、設(shè)定參數(shù)后，只要按開始按鈕即可得到測量結(jié)果平臺建設。
SZ-100納米粒度/Zeta電位分析儀應(yīng)用范圍：
● 陶瓷粒子 ● 金屬納米粒子 ● 碳黑 ● 制藥 ● 病毒 ● 涂料
● 化妝品 ● 聚合物 ● 食品 ● ＣＭＰ● 顏料服務機製、油墨
