新一代的粒度分析儀將成熟的SediGraph分析技術(shù)與先進的檢測儀器功能相結(jié)合服務體系，提供的重復(fù)性、準確性和重現(xiàn)性搶抓機遇。 SediGraph III通過X射線吸收測量樣品質(zhì)量分析，利用標準的沉降法測量粒度，無需建模全面闡釋。該產(chǎn)品的技術(shù)已成為造紙非常激烈、陶瓷、磨料等數(shù)個行業(yè)的金色標準引人註目。
SediGraph®Ⅲ Plus全自動X光沉降粒度分析儀
• 儀器與配件報價 • • 產(chǎn)品培訓 
久經(jīng)考驗的技術(shù)和可靠性
在過去的三十多年中領域，麥克儀器公司的SediGraph是*許多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產(chǎn)環(huán)境還是在專業(yè)的化驗室好宣講，SediGraph憑借其的可靠性得出精確的測量結(jié)果註入新的動力。粒徑分布的測量采用沉降法，顆粒通過直接吸收X射線而被測量。根據(jù)Stockes定律雙重提升，通過測量粒子在液體中的沉降速率，得出粒子粒徑大小長遠所需，粒徑分析范圍為0.1~300μm求索。
- 產(chǎn)品應(yīng)用
- 軟件和數(shù)據(jù)報告
- 應(yīng)用筆記、文獻和參考書目
- ASTM 方法
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智能設(shè)計特色
SediGraph III Plus 粒度分析儀先進的設(shè)計確保了測量的重復(fù)性和使用的便利性。使得儀器操作更加容易穩定發展，日常維護更加簡單基石之一。并且能夠確保對同一樣品，在任意一臺SediGraph儀器上都能獲得重復(fù)性*的結(jié)果增持能力。
• 高精度X光管終身保修（7年）
• 簡化泵系統(tǒng)共同努力，確保快速分析和易于維護
• 降低噪聲追求卓越，提供更加安靜的工作環(huán)境
• 維護提醒裝置逐漸完善，根據(jù)總測試量，提示用戶進行定期維護
• 電腦控制混合室溫度發展契機，提高測試可重復(fù)性
• Windows操作軟件廣泛關註，以太網(wǎng)連接，可進行點擊式選擇菜單發力，聯(lián)網(wǎng)工作優勢領先，打印機選擇，剪切和粘貼等操作
• 多功能和交互式報告系統(tǒng)共創美好，能夠提供多種類型的報告推動並實現，例如顆粒沉降速度和粒度（以Phi為單位）
多項功能
- 完整的顆粒分析，能夠確保對樣品中的所有顆粒全部進行分析覆蓋範圍，包括粒徑大于 300μm和小于0.1μm的部分
- 能夠與其他粒徑測得的數(shù)據(jù)相結(jié)合優化程度，使數(shù)據(jù)報告范圍可擴展至125,000μm (125mm)，在地質(zhì)學方面具有很好的應(yīng)用
- 自下而上地掃描沉降室奮勇向前，能夠準確的獲取沉降顆粒的總數(shù)不斷豐富，同時zui小化顆粒分離所需的時間
- 全自動操作模式能夠增加分析樣品總數(shù)，并且能夠減少人為操作步驟數據，以降低由人為操作造成的測量誤差
- 控溫分析可確保在整個分析過程中液體的性質(zhì)不發(fā)生任何變化創新的技術，以獲取精確的分析結(jié)果
- 多種分析速度，可根據(jù)實際需要選擇所需的速度和分辨率
| - 實時顯示顯著，能夠監(jiān)控當前分析的累積質(zhì)量圖快速增長，以便根據(jù)需求立即修正分析程序
- 統(tǒng)計過程控制（SPC）報告能夠跟蹤過程性能，便于立即對變化做出響應(yīng)
- 多圖疊加功能占，能夠?qū)Ψ治鼋Y(jié)果進行可視化比較高質量，例如：與參考樣品或基線疊加，或者將同一分析數(shù)據(jù)的兩種不同類型結(jié)果圖疊加
- 數(shù)據(jù)比較圖激發創作，能夠提供兩套數(shù)據(jù)組（不同于參考圖）圖形顯示的數(shù)學差或某個數(shù)據(jù)點高于/低于誤差范圍的程度（圖以外）
- 能夠使用同一臺計算機同時控制兩SediGraph前景，節(jié)約寶貴的實驗室空間，方便數(shù)據(jù)存儲
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