NORAN System 7 第七代 X 射線能譜儀能夠使分析人員在zui短時間內(nèi)獲得可靠的分析結(jié)果不可缺少。僅需按下按鈕，打印報告特點。所有過程自動完成積極回應。

NORAN System 7 第七代 X 射線能譜儀

NORAN System 7 第七代 X 射線能譜儀能夠使分析人員在zui短時間內(nèi)獲得可靠的分析結(jié)果。僅需按下按鈕又進了一步，打印報告多種場景。所有過程自動完成。
NORAN System 7 為現(xiàn)代電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)室提供zui高的微區(qū)分析能力：可提供zui高靈敏度的 X 射線探測器規劃、zui高通量的脈沖處理器和數(shù)字成像技術(shù)以及的軟件包擴大公共數據。擁用這些功能的NORAN System 7 能譜儀在短短數(shù)秒內(nèi)即可產(chǎn)生準(zhǔn)確的分析結(jié)果。
 

能譜分析

• 利用基于規(guī)則的識別和峰形去卷積方法帶動擴大，快速準(zhǔn)確識別元素峰
• SpectraCheck 技術(shù)可利用譜圖模擬和比較規(guī)則—提供重疊譜峰和表示擬和優(yōu)度的卡方值核心技術體系，通過目測和統(tǒng)計方式確認(rèn)元素的存在
• 元素峰參考提供通過典型 EDS 系統(tǒng)采集得到的完整能譜峰形集
• 這些峰形的強(qiáng)度會自動校正以匹配顯微鏡檢測器—無需定期根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)來校正系統(tǒng)
• 采用 PROZA Phi-Rho-Z 基體校正算法

“一鍵式”模式

• 集成電子成像和 X 射線分析
• 只需單擊鼠標(biāo)即可對所選感興趣區(qū)域進(jìn)行元素識別和定量分析
• 利用點(diǎn)、矩形持續發展、圓必然趨勢、多邊形或使用魔術(shù)棒工具確定樣品區(qū)域
• 利用魔術(shù)棒工具可輕松選取復(fù)雜區(qū)域，無需手動繪制邊框
• 只需點(diǎn)擊一次即可基于灰度值自動作出選擇
• 瞬時分析所選區(qū)域或選擇多區(qū)域進(jìn)行同時分析
• 根據(jù)所選設(shè)置進(jìn)行處理
• 能夠提供所需能譜結(jié)果--具有完整標(biāo)準(zhǔn)的定性分析到定量分析

全譜元素圖像

• 采集每一點(diǎn)處的能譜圖--對成像擴大、X 射線面分布多樣性、線掃描和高級自動化分析非常有用
• NORAN System 7 能夠采集可進(jìn)行重復(fù)分析的數(shù)據(jù)，無需重新采集或更改采集參數(shù)--只需點(diǎn)擊一次即可
• 在顯微鏡本地分析采集數(shù)據(jù)新格局，或?qū)?shù)據(jù)離線復(fù)制至另一臺計算機(jī)制作報告

自動提取分析軟件

• 允許實(shí)驗(yàn)室中的所有人員執(zhí)行相同的分析并獲得*的結(jié)果
• 采用功能強(qiáng)大的多變量統(tǒng)計算法明顯，由 Paul Kotula 等人創(chuàng)建并由 Sandia國家實(shí)驗(yàn)室*
• 采用高級算法，在數(shù)據(jù)仍被采集時Direct-to-Phase軟件能夠提取并顯示已知相
• 允許 EDS 系統(tǒng)決定合適采集到足夠的統(tǒng)計數(shù)據(jù)最新，或可視化正在建立的數(shù)據(jù)

Direct-to-Phase軟件

• 同時進(jìn)行數(shù)據(jù)分析和數(shù)據(jù)采集 - 實(shí)時相分析速度
• 不僅在分布圖和譜圖中顯示元素數(shù)據(jù)倍增效應，還能生成信息豐富的樣品組成圖--生成完整數(shù)據(jù)的速度比當(dāng)前X 射線微區(qū)分析技術(shù)快10倍