半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀適用于有機、無機半導(dǎo)體粉末材料（包括納米級）的電阻率測量, 也可以測量固體半導(dǎo)體材料保持穩定，特別適合于太陽能多晶硅總之、硅粉質(zhì)量的測量、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng), 高度測量的測試臺和儀器組成.
半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀
半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀是為了適應(yīng)當(dāng)前迅速發(fā)展中的高分子半導(dǎo)電納米材料電阻率測試需要,參照有關(guān)標準設(shè)計的支撐作用。 儀器的電流輸出為 10 µA - 100 mA 研學體驗，電阻率測試范圍為 10 -2 - 10 5 Ω cm ，直接采用數(shù)字顯示最為突出。儀器的可靠性和穩(wěn)定性大大增強落實落細，更方便于用戶， 而且價格低廉高效化、實惠製高點項目。配置不同的測試架可以對半導(dǎo)體粉末、高分子納米粉末和固態(tài)金屬進行電阻、電阻率多用途的測量有所增加。
半導(dǎo)體粉末電阻率測試儀適用于有機各項要求、無機半導(dǎo)體粉末材料(包括納米級)的電阻率測量, 也可以測量固體半導(dǎo)體材料，特別適合于太陽能多晶硅越來越重要的位置、硅粉質(zhì)量的測量新技術、分選和質(zhì)量控制. 電阻率值直接數(shù)字顯示由具有高精度加壓系統(tǒng), 高度測量的測試臺和儀器組成.
儀器主要包括電氣箱和測試架兩部分，電氣測試部分由高精度直流數(shù)字電壓表和直流恒定電流源組成順滑地配合。測試架為壓力傳感器深入， 加壓機構(gòu)和粉末標準容器組成。壓力機構(gòu)采用手動操作前沿技術、壓力平穩(wěn)基礎。本儀器具有測量精度高，穩(wěn)定性好影響力範圍，重復(fù)性好大局，使用方便等特點， 并有自校功能邁出了重要的一步。
本儀器采用通用的電流-電壓降法即四端子測量法宣講手段，可以消除電極與粉末接觸產(chǎn)生的接觸電阻誤差，還可以消除聯(lián)接系統(tǒng)所帶來的誤差積極拓展新的領域， 克服了以往傳統(tǒng)的二端測量粉末電阻率儀器的弊病配套設備，真實、準確地測量出粉末樣品的電阻率相對開放，因此重復(fù)性好推進高水平。
本儀器適用于碳素廠、焦化廠拓展應用、石化廠生產創效、粉末冶金廠、高等院校管理、科研部門優化上下、是檢驗和分析固態(tài)、粉態(tài)和納米樣品質(zhì)量的一種重要工具模樣。
主要技術(shù)指標：
- 測量范圍：
- 電阻 10-4 - 105 Ω, 分辨率 10-4 Ω
- 電阻率 10-4 - 105 Ω.cm生產體系，分辨率 10-4 Ω.cm
測量誤差 ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字）
- 測量電壓量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率 10 µV
測量精度: ±（0.3% 讀數(shù) + 2 字） - 測量電流：0 - 100 mA 連續(xù)可調(diào)很重要，
電流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA - 試樣粒度：40 目以下 - 60 目以上（標準篩網(wǎng)）納米粉末
- 試樣容器：內(nèi)腔Φ16.30 ± 0.1mm
- 試樣高度：16mm ± 0.5mm
測量誤差：±0.1mm - 取樣壓力：4 Mpa ± 0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ± 0.5 kg/cm²)
壓力量程：0 - 100 kg 可調(diào) - 顯示方式: 電阻能力和水平、電阻率、壓力為 3 1/2 數(shù)字顯示,并自動顯示單位和小數(shù)點
- 電源：220 ± 10% , 50HZ-60HZ, 功率消耗 < 150W 消耗
- 外形尺寸電氣箱：440mm×120mm×320mm
備有粉末測試架和固態(tài)標準樣品測試臺供選用
