普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU，為進一步打通測試融合壁壘多種場景，打造閉環(huán)解決方案多元化服務體系，通過對半導體搞端測試裝備上下游產(chǎn)業(yè)鏈的垂直整合，晶圓級微電子材料器件測試系統(tǒng)應(yīng)運而生!晶圓/芯片微弱電流測試數(shù)字源表認準普賽斯儀表咨詢

在半導體材料和器件的研究中擴大公共數據，電性能測試是比不可少的環(huán)節(jié)大幅拓展。隨著半導體技術(shù)的提升，微電子工藝逐漸復雜更加堅強，如何對微電子材料器件進行高效率測試成為業(yè)內(nèi)關(guān)注的重點與時俱進。普賽斯儀表陸續(xù)推出多型號國產(chǎn)化數(shù)字源表SMU，為進一步打通測試融合壁壘初步建立，打造閉環(huán)解決方案綜合運用，通過對半導體搞端測試裝備上下游產(chǎn)業(yè)鏈的垂直整合，晶圓級微電子材料器件測試系統(tǒng)應(yīng)運而生!
普賽斯數(shù)字源表SMU是整個測試系統(tǒng)的核心部分，用戶可以根據(jù)材料器件不同的電流實事求是、電壓進行探討，配置不同規(guī)格參數(shù)的源表和探針臺。

更高效:靈活測試：

體積小巧服務水平，節(jié)省實驗臺空間
接線簡單最新，無需繁雜的同步觸發(fā)操作
適應(yīng)多種測量模式，如四探針處理方法、三同軸等

更可靠:廣泛應(yīng)用：
利用普賽斯這套國產(chǎn)化高精度數(shù)字源表+探針臺的測試系統(tǒng)重要作用，可以為您完成任何晶圓、芯片習慣、微小電子器件的測試充足。