普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備重要手段，產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU）的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案穩定性，為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段像一棵樹，實(shí)現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和分析更高效。如果您對功率半導(dǎo)體參數(shù)測試儀功率器件分析儀感興趣，歡迎隨時(shí)聯(lián)系我們自動化方案！

靜態(tài)特性測試挑戰(zhàn)

隨著半導(dǎo)體制程工藝不斷提升緊密協作，測試和驗(yàn)證也變得更加重要。通常線上線下，主要的功率半導(dǎo)體器件特性分為靜態(tài)特性發揮重要作用、動態(tài)特性、開關(guān)特性數據顯示。靜態(tài)參數(shù)特性主要是表征器件本征特性指標(biāo)高質量，與工作條件無關(guān)的相關(guān)參數(shù)，如很多功率器件的的靜態(tài)直流參數(shù)(如擊穿電壓記得牢、漏電流註入了新的力量、閾值電壓、跨導(dǎo)更多可能性、壓降去創新、導(dǎo)通內(nèi)阻)等足夠的實力。

功率半導(dǎo)體器件是一種復(fù)合全控型電壓驅(qū)動式器件，兼有高輸入阻抗和低導(dǎo)通壓降兩方面的優(yōu)點(diǎn):同時(shí)半導(dǎo)體功率器件的芯片屬于電力電子芯片結構，需要工作在大電流更適合、高電壓、高頻率的環(huán)境下溝通協調，對芯片的可靠性要求較高要素配置改革，這給測試帶來了一定的困難。市面上傳統(tǒng)的測量技術(shù)或者儀器儀表一般可以覆蓋器件特性的測試需求保障性，但是寬禁帶半導(dǎo)體器件SiC(碳化硅)或GaN(氮化鎵)的技術(shù)卻極大擴(kuò)展了高壓帶動產業發展、高速的分布區(qū)間。如何精確表征功率器件高流/高壓下的I-V曲線或其它靜態(tài)特性持續發展，這就對器件的測試工具提出更為嚴(yán)苛的挑戰(zhàn)必然趨勢。

更高精度更高產(chǎn)量

并聯(lián)應(yīng)用要求測試精度提離，確保一致性

終端市場需求量大擴大，要求測試效率提高長遠所需，UPH提升

更寬泛的測試能力

更寬的測試范圍、更強(qiáng)的測試能力

更大的體二極管導(dǎo)通電壓

更低的比導(dǎo)通電阻

提供更豐富的溫度控制方式

更科學(xué)的測試方法

掃描模式對閾值電壓漂移的影響

高壓低噪聲隔離電源的實(shí)現(xiàn)

高壓小電流測量技術(shù)有所應、高壓線性功放的研究

低電感回路實(shí)現(xiàn)

柔性化測試能力

兼容多種模塊封裝形式

方便更換測試夾具

靈活配置廣度和深度，滿足不同測試需求

PMST系列功率器件測試設(shè)備是武漢普賽斯正向設(shè)計(jì)，精益打造的高精密電壓/電流測試分析系統(tǒng)顯示，是一致能夠提供IV創新為先，CV、跨導(dǎo)等豐富功能的綜合測試系統(tǒng)集聚，具有高精度競爭力、寬測量范圍、模塊化設(shè)計(jì)狀況、輕松升級擴(kuò)展等優(yōu)勢機製性梗阻，旨在全面滿足從基礎(chǔ)功率二極管、MOSFET.  BJT全過程、 IGBT到寬禁帶半導(dǎo)體SiC集成應用、GaN等晶圓、芯片不負眾望、器件及模塊的靜態(tài)參數(shù)表征和測試高效流通，并具有著越的測量效率、一致性與可靠性精準調控。讓任何工程師使用它都能變成行業(yè)專家功能。

針對用戶不同測試場景的使用需求，普賽斯全新推出PMST功率器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)解決、PMST-MP功率器件靜態(tài)參數(shù)半自動化測試系統(tǒng)廣泛關註、PMST-AP功率器件靜態(tài)參數(shù)全自動化測試系統(tǒng)三款功事器件靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)善於監督。更多有關(guān)功率半導(dǎo)體參數(shù)測試儀功率器件分析儀詳情上普賽斯儀表官&網(wǎng)咨詢

從實(shí)驗(yàn)室到小批量、大批量產(chǎn)線的全覆蓋

從Si IGBT. SiC MOS到GaN     HEMT的全國蓋

從晶圓就能壓製、芯片更合理、器件、模塊到PM的全覆蓋

 產(chǎn)品特點(diǎn)

 高電壓更優美、大電流

 具有高電壓測量/輸出能力,電壓高達(dá)3500V(蕞大可擴(kuò)展至10kV)

 具有大電流測量/輸出能力,電流高達(dá)6000A(多模塊并聯(lián))

 高精度測量

  納安級漏電流,  μΩ級導(dǎo)通電阻

  0.1%精度測量

  模塊化配置

  可根據(jù)實(shí)際測試需要靈活配置多種測量單元系統(tǒng)預(yù)留升級空間,后期可添加或升級測量單元

  測試效率高

  內(nèi)置專用開關(guān)矩陣,根據(jù)測試項(xiàng)目自動切換電路與測量單元

  支持國標(biāo)全指標(biāo)的一鍵測試

  擴(kuò)展性好

  支持常溫及高溫測試可靈活定制各種夾具

硬件特色與性能優(yōu)勢

大電流輸出響應(yīng)快各方面，無過沖

采用自主開發(fā)的高性能脈沖式大電流源、高壓源成效與經驗，輸出建立過程響應(yīng)快適應性、無過沖。測試過程中稍有不慎，大電流典型上升時(shí)間為15us,脈寬在50-500μs之間可調(diào)重要作用。采用脈沖大電流的測試方式，可有效降低器件因自身發(fā)熱帶來的誤差最為顯著。

高壓測試支持恒壓限流尤為突出，恒流限壓模式

采用自主開發(fā)的高性能高壓源，輸出建立與斷開響應(yīng)快環境、無過沖進行部署。在擊穿電壓測試中，可設(shè)定電流限制或者電壓限值應用情況，防止器件因過壓或過流導(dǎo)致?lián)p壞保護好。

功率半導(dǎo)體參數(shù)測試儀功率器件分析儀測試項(xiàng)目
集電極-發(fā)射極電壓Vces，集電極-發(fā)射極擊穿電壓V(br)ces表現、集電極-發(fā)射極飽和電壓Vcesat
集電極截止電流Ices特點、柵極漏電流Iges
柵極-發(fā)射極電壓Vges、柵極-發(fā)射極閾值電壓Vge(th)
輸入電容結論、輸出電容和諧共生、反向傳輸電容
續(xù)流二極管壓降Vf
I-V特性曲線掃描，C-V特性曲線掃描等