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集成礦物分析儀 TIMA-X FEG（LM）
面議0簡介：背散射電子圖像分辨率：2.0nm@15keV二次電子圖象分辨率：1.2nm@30keV加速電壓：0.2~30kV放大倍數：1~1,000,000x儀器簡介：TIMA3LMU/LMHFEG是一款基于...
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TESCAN 高分辨率三維 X 射線 CT 顯微鏡
面議0簡介：TESCANUniTOMXL這款高通量微米級CT顯微鏡具有超快的分析速度，適用于各類樣品的無損分析服務，并提供了更靈活的研究方式
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TESCAN MIRA 場發(fā)射掃描電鏡
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泰思肯集成礦物分析儀 TIMA-X（GM）
面議0簡介：背散射電子圖像分辨率：3.0nm@30keV（低真空模式）二次電子圖象分辨率：3.0nm@30keV加速電壓：0.2~30kV放大倍數：2~1,000,000x儀器種類：鎢燈絲TESCAN集成式礦...
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ALT327 impact-freezer 沖撞冷凍制樣
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Apreo 2 超高分辨場發(fā)射掃描電鏡
面議0簡介：：很重要、400-1001-306
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Quattro-環(huán)境掃描場發(fā)射電鏡
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Prisma E SEM-環(huán)境掃描鎢燈絲電鏡
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Axia ChemiSEM 智能型鎢燈絲掃描電鏡
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COXEM 臺式掃描電鏡EM-30N
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