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飛納掃描電鏡的三頭六臂之顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)
飛納掃描電鏡以的微觀(guān)檢測(cè)能力被大家熟知善於監督,簡(jiǎn)單的操作集成技術、方便的測(cè)樣就能壓製、快速的成像以及友好的界面為飛納帶來(lái)了不少粉絲。其實(shí)適應能力,飛納電鏡除了強(qiáng)大的微觀(guān)檢測(cè)能力之外更優美,它也有許多實(shí)用的可拓展功能。飛納電鏡的這些“三頭六臂”讓客戶(hù)在進(jìn)行微觀(guān)分析時(shí)如虎添翼解決方案,今天就來(lái)談一談其中被很多人關(guān)注的 顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)優勢。
在檢測(cè)粉末樣品時(shí),除了形貌觀(guān)察增產,我們有時(shí)還有統(tǒng)計(jì)其粒徑便利性、圓度等的需求。如果我們依靠人工手動(dòng)測(cè)量統(tǒng)計(jì)行動力,會(huì)耗費(fèi)很大的人力和時(shí)間提供有力支撐。此時(shí),如果有一款軟件能基于微觀(guān)形貌自動(dòng)統(tǒng)計(jì)顆粒的具體信息保供,就會(huì)方便很多自行開發。
客戶(hù)有需求,飛納有方案 —— 顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)運(yùn)而生
原理
掃描電鏡只能進(jìn)行“黑白”成像責任,而顆粒與周?chē)尘?“亮度” 不一致應用情況,根據(jù)這一差異保護好,系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)識(shí)別到顆粒。
檢測(cè)方式
可以根據(jù)客戶(hù)不同檢測(cè)需求進(jìn)行統(tǒng)計(jì)表現,比如融合顆粒的識(shí)別設(shè)置(圖1)特點、覆蓋顆粒是否統(tǒng)計(jì)(圖2)、不完整顆粒是否統(tǒng)計(jì)(圖3)相互配合、小識(shí)別顆粒尺寸(圖4)等等慢體驗。
圖 1
圖 2
圖 3
圖 4
統(tǒng)計(jì)結(jié)果
顆粒統(tǒng)計(jì)分析測(cè)量系統(tǒng)會(huì)把識(shí)別到的顆粒一一列出來(lái),操作員可以根據(jù)需求可以刪除不滿(mǎn)意顆粒智能化。其次科技實力,系統(tǒng)會(huì)把每一個(gè)顆粒的具體信息統(tǒng)計(jì)出來(lái),比如面積建設、等效圓直徑在此基礎上、長(zhǎng)軸長(zhǎng)度、短軸長(zhǎng)度等前來體驗,全面地了解樣品自主研發。
當(dāng)獲得了滿(mǎn)意的統(tǒng)計(jì)結(jié)果之后,還可以根據(jù)需要生成散點(diǎn)圖更加廣闊、折線(xiàn)圖等統(tǒng)計(jì)圖表(橫縱坐標(biāo)自主確定)損耗,并自動(dòng)生成統(tǒng)計(jì)報(bào)告,顆粒統(tǒng)計(jì)結(jié)果一目了然非常完善。
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第二十一屆北京分析測(cè)試學(xué)術(shù)報(bào)告會(huì)暨展覽會(huì)(BCEIA 2025)
展會(huì)城市:北京市展會(huì)時(shí)間:2025-09-10