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x射線光電子能譜儀法是一種常用的表面分析方法，使用電子譜儀測量X-射線光子輻照時樣品表面所發(fā)射出的光電子和俄歇電子能量分布，從而獲得樣品的元素組成數據、表面結(jié)構(gòu)等特征創新的技術。使用x射線光電子能譜儀對操作人員的要求較高，特別是樣品的制備顯著，使用時需要格外注意快速增長。
1.樣品分析面確保不受污染，可使用異丙醇占，丙酮初步建立，正己烷，或三氯甲烷溶液(均為分析純)清洗以達(dá)到清潔要求供給。
2.使用玻璃制品(如表面皿的方法、稱量瓶等)或者鋁箔盛放樣品，禁止直接使用塑料容器進行探討、塑料袋或紙袋落到實處，以免硅樹脂或纖維污染樣品表面。
3.制備或處理樣品時使用聚乙烯手套再獲，禁止使用塑料手套和工具以免硅樹脂污染樣品表面產品和服務。
4.安裝時，應(yīng)盡量使樣品與樣品托有良好的電接觸體驗區。
5.樣品的磁性會使樣品表面出射的光電子偏離接收角增多，影響XPS圖譜的正確性，而且當(dāng)樣品的磁性很強(qiáng)時有望，還有可能使分析器頭及樣品架磁化的危險(xiǎn)進一步推進。因此禁止帶有磁性的樣品進(jìn)入分析室。一般對于具有弱磁性的樣品可以通過退磁的方法去掉樣品的微弱磁性方案。
6.當(dāng)樣品有多種組分時應用的選擇，應(yīng)盡量選擇能量靠近的峰。當(dāng)有干擾峰存在時左右，應(yīng)選擇該元素其它特征峰背景下。
7.定量分析時還應(yīng)注意對有影響的X射線伴峰的扣除。如有震激伴峰(shake-up)等時可靠保障，譜峰強(qiáng)度為主峰面積與伴峰面積之和自然條件。
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