【儀器網(wǎng) 行業(yè)應(yīng)用】X射線光電子能譜是一種表面分析法推動並實現,它可以給出固體樣品表面所含的元素種類薄弱點、化學(xué)組 成以及有關(guān)的電子結(jié)構(gòu)重要信息覆蓋範圍,在各種固體材料的基礎(chǔ)研究和實際應(yīng)用中起著重要的作用。
1.元素定性分析
各種元素都有它的特征的電子結(jié)合能積極性,因此在能譜圖中就出現(xiàn)特征譜線奮勇向前,可以根據(jù)這些譜線在能譜圖中的位置來鑒定周期表中除 H 和 He 以外的所有元素。通過對樣品進行全掃描實施體系,在一次測定中就可以檢出全部或大部分元素組建。
2.元素定量分折
X 射線光電子能譜定量分析的依據(jù)是光電子譜線的強度(光電子蜂的面積)反映了原于的含量或相對濃度。在實際分析中效果較好,采用與標準樣品相比較的方法來對元素進行定量分析重要的意義,其分析精度達 0.5 %~ 1 %。
3.固體表面分析
固體表面是指外層的 1 ~ 10 個原子層等多個領域,其厚度大概是 (0.1~1) n nm 再獲。人們早已認識到在固體表面存在有一個與團體內(nèi)部的組成和性質(zhì)不同的相。表面研究包括分析表面的元素組成和化學(xué)組成提供了有力支撐,原子價態(tài)激發創作,表面能態(tài)分布。測定表面原子的電子云分布和能級結(jié)構(gòu)等進一步意見。 X 射線光電子能譜是常用的工具增幅最大。在表面吸附、催化生產能力、金屬的氧化和腐蝕標準、半導(dǎo)體、電極鈍化處理方法、薄膜材料等方面都有應(yīng)用重要作用。
4.化合物結(jié)構(gòu)簽定
X 射線光電子能譜法對于內(nèi)殼層電子結(jié)合能化學(xué)位移的精確測量,能提供化學(xué)鍵和電荷分布方面的信息習慣。
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