EXPLORER 多功能X射線衍射儀在幾乎所有的分析領(lǐng)域都有著出色的性能前沿技術，例如可以測(cè)量混合物質(zhì)的相態(tài)基礎；可以檢測(cè)微觀的結(jié)構(gòu)性質(zhì)，例如薄膜或塊狀樣品中的殘應(yīng)力和晶體取向等拓展基地。其模塊化設(shè)計(jì)集中展示，更是為儀器提供了廣闊的升級(jí)空間，通過升級(jí)儀器可以滿足新的分析需求體系流動性。

　　主要特點(diǎn)

■ 直接傳動(dòng)高精度轉(zhuǎn)矩馬達(dá)與優(yōu)勢(shì)的光學(xué)編碼器相結(jié)合探索創新，確保了儀器的傳動(dòng)速度和精度；

■ 全部組件可以拆分為7個(gè)模塊實現了超越，同時(shí)可以在5個(gè)獨(dú)立自由度上檢測(cè)樣品新產品，適用于全部的粉末、薄膜和塊狀樣品橋梁作用；

■ 可以進(jìn)行常規(guī)的晶相識(shí)別和定量長遠所需，可以分析晶體尺寸、晶格應(yīng)變及結(jié)晶度的計(jì)算讓人糾結；

■ 可以定量分析殘余奧氏體規模、多晶物篩查、晶體結(jié)構(gòu)分析基石之一、殘余應(yīng)力分析聯動、薄膜分析、深度剖析共同努力、相變紋理和優(yōu)先取向行業內卷、納米粒子分析；

■ 光學(xué)系統(tǒng)可以在Bragg-Brentano 聚焦和Johansson 或拋面鏡單色器自由切換很重要；

■ 高分辨的反射技術(shù)能力和水平，讓檢測(cè)厚度精確至1-500nm，幾何平行光束采用了小反射角和薄膜附件異常狀況，從而可以進(jìn)行薄膜或?qū)哟畏治觯?/p>

■ 將拋面鏡單色器與晶體開槽技術(shù)有機(jī)結(jié)合研究，并安裝在入射光束上，可以獲得高強(qiáng)度應用創新、低散射適合高分辨率測(cè)量的平行單色光提高；

■ 強(qiáng)大，簡(jiǎn)便的操作軟件實(shí)測(cè)檢測(cè)工作更加簡(jiǎn)單的特性，軟件同時(shí)具有許多先進(jìn)的功能交流，可以幫助用戶對(duì)復(fù)雜的譜圖進(jìn)行分析。